Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 22.12.2025 по 28.12.2025
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ ISO/TS 80004-6-2016; Страница 20

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ Р 57242-2016 Воздушный транспорт. Система менеджмента безопасности авиационной деятельности. База данных. Авиационные риски, возникающие при проектировании авиационной техники (Настоящий стандарт определяет основные авиационные риски, возникающие при проектировании авиационной техники и описывает остаточные риски типовой конструкции воздушного судна. Руководящие указания, приведенные в настоящем стандарте, являются общими и предназначены для применения всеми организациями, осуществляющими разработку авиационной техники.) ГОСТ ISO/TS 80004-4-2016 Нанотехнологии. Часть 4. Материалы наноструктурированные. Термины и определения (Настоящий стандарт является частью серии стандартов ISO/TS 80004 и устанавливает термины и определения понятий в области нанотехнологий, относящихся к наноструктурированным материалам. Настоящий стандарт не распространяется на материалы, имеющие топографические или композиционные свойства в нанодиапазоне, так как этого недостаточно для отнесения материала к наноструктурированным. Настоящий стандарт предназначен для обеспечения взаимопонимания между организациями и отдельными специалистами, осуществляющими свою деятельность в области нанотехнологий) ГОСТ ISO/TS 80004-8-2016 Нанотехнологии. Часть 8. Процессы нанотехнологического производства. Термины и определения (Настоящий стандарт является частью серии стандартов ISO/TS 80004 и устанавливает термины и определения понятий в области нанотехнологий, относящихся к процессами нанотехнологического производства. Не все процессы, термины и определения которых установлены в настоящем стандарте, осуществляют в нанодиапазоне. В зависимости от возможностей управления такими процессами для изготовления продукции в качестве исходных материалов применяют и наноматериалы, и обычные материалы. Настоящий стандарт не распространяется на оборудование, вспомогательные материалы и методы контроля, применяемые в процессах нанотехнологического производства)
Страница 20
Страница 1 Untitled document
ГОСТ ISO/TS 80004-6-2016
тронно-оптические части, источник возбуждения спектров излучения, электронный детектор, вакуумный насос,
персональный компьютер с управляющей программой, обеспечивающей управление оборудованием, обработ
ку и выдачу результатов измерений.
[ISO 18115-1. статьи 4.187. 4.190. определение термина изменено]
4.14
спектроскопия характеристических потерь энергии электронами; СХПЭЭ; Ме
тод исследования объекта с помощью электронного спектрометра (4.13), основан
ный на регистрации энергетических спектров неупруго рассеянных электронов, ис
пускаемых моноэнергетическим источником и потерявших фиксированные порции
энергии в процессе взаимодействия с объектом.
electron energy
loss
spectroscopy.
EELS
П ри м ечания
1 Значения энергетических спектров электронов, полученные с помощью СХПЭЭ. будут близки к значениям,
полученным с помощью электронной оже-слектроскопии (ЭОС) (4.16) или рентгеновской фотоэлектронной спек
троскопии (РФЭС) (4.18). а пики характеристических потерь энергии электронов расположены вблизи пика упру го
отраженных электронов.
2 Значения энергетических спектров неупруго рассеянных электронов зависят от энергии электронного пучка,
угла его падения на поверхность исследуемого объекта, угла рассеяния электронов и свойств исследуемого
объекта.
[ISO 18115-1, статья 4.197, наименование и определение термина изменены]
4.15
оже-элоктрон: Электрон, покидающий атом под действием ионизирующего из- Auger electron
лучения и высвобождающий место (вакансию) на одной из его внутренних обо
лочек.
П ри м е ча н и е Энергия оже-электрона характерна для конкретного элемента. Анализ энергии оже-элек-
тронов позволяет определить элементный состав исследуемых объектов.
[ISO 18115-1, статья 4.37, определение термина изменено]
4.16
электронная оже-спектроскопия; ЭОС; Метод исследования объекта с помощью
электронного спектрометра (4.13). основанный на регистрации энергетических
спектров оже-электромов (4.15). испускаемых с поверхности объекта.
Auger electron
spectroscopy,
AES
П р и м е ч а н и е В ЭОС в качестве ионизирующего излучения используют электронные пучки с энергией от 2
до 30 кэВ. В ЭОС объект также облучают ионами или применяют рентгеновское излучение. В случае при менения
в ЭОС рентгеновского излучения энергию оже-электронов отсчитывают относительно уровня Ферми, а при
применении электронного пучка уровня Ферми или уровня вакуума. В ЭОС регистрируют энергетические
спектры оже-электронов и осуществляют дифференцирование электрическими методами непосредственно в
процессе записи спектров.
[ISO 18115-1, статья 3.1]
4.17
ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия; УФЭС: Метод исследо
вания объекта с помощью электронного спектрометра (4.13), основанный на ре
гистрации энергетических спектров фотоэлектронов, испускаемых с поверхности
объекта, облученного ультрафиолетовым излучением.
ultraviolet
photoelectron
spectroscopy;
UPS
П ри м е ча н и е В лабораторных электронных спектрометрах для УФЭС в качестве источника ультрафио
летового излучения используют газоразрядные лампы, чаще всего гелиевые. В этих источниках в зависимости от
давления газа и тока разряда генерируется одна из двух интенсивных линий с энергией фотонов 21.2 эВ (Не I)
и 40.8 эВ (Не II). Также в УФЭС применяют источники синхротронного излучения.
[ISO 18115-1. статья 3.22]
14