ГОСТ ISO/TS 80004-6—2016
5 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения
других характеристик нанообъектов
5.1 Термины и определения понятий, относящ ихся к методам измерений массы
5.1.1 метод пьезоэлектрического микровзвеш ивания: МПМ. Метод измеренияquartz crystal
microbalance;
QCM
массы вещества с помощью кварцевых микровесов, основанный на зависимости
частоты колебаний кварцевого резонатора (датчика микровесов) от количества ве-
щества. нанесенного на его поверхность.
П р и м е ч а н и е — С помощью кварцевых микровесов измерения можно проводить в условиях вакуума, в газо
вой или жидкой средах.
5.1.2
термогравиметрия; ТГ; Метод измерения массы вещества, основанный на реги
страции изменения его массы в зависимости от температуры или времени при на
гревании в заданной среде с регулируемой скоростью.
[ISO 472:2013. статья 2.1173, определение термина изменено]
thermogravi-
metry;
TG
5.1.3
характеристик вещества, основанный на регистрации энергии, необходимой для
выравнивания температур исследуемого вещества и вещества, используемого в
качестве эталона, в зависимости от температуры или времени.
диф ф еренциально-сканирующ ая калориметрия; ДСК: Метод определенияdifferential
scanning
calorimetry;
DSC
[ISO 472:2013. статья 2.278. определение термина изменено]
5.2 Термины и определения понятий, относящ ихся к методам определения
характеристик кристаллических нанообъектов
5.2.1 диф ракция рентгеновского излучения: Явление рассеяния рентгеновскогоX-ray diffraction
излучения в результате взаимодействия с электронами вещества, лежащее в осно
ве метода рентгеноструктурного анализа, в котором из сформированной дифрак
ционной картины получают информацию о структуре исследуемого объекта.
П р и м е ч а н и е — С помощью метода рентгеноструктурного анализа можно определить размеры области ко
герентного рассеяния объекта.
5.2.2
диф ракция отраженных электронов; ДОЭ: Явление обратного рассеяния элек
тронов. возникающее вследствие взаимодействия электронов с атомными пло
скостями кристаллической решетки объекта, при облучении объекта электронным
пучком.
electron
backscatter
diffraction;
EBSD
[ISO 24173:2009. статья 3.7]
5.3 Термины и определения понятий, относящ ихся к методам определения
характеристик нанообъектов в суспензиях
5.3.1
электрофоретическая скорость: Скорость частиц (2.9) во время электрофореза,
electrophoretic
velocity
П р и м е ч а н и е — Единицей измерения электрофоретической скорости является м/с.
[ISO 13099-1:2012, статья 2.2.6]
17