ГОСТ ISO/TS 80004-6—2016
4.18
рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия; РФЭС: Метод исследования
объекта с помощью электронного спектрометра (4.13). основанный на регистрации
энергетических спектров фотоэлектронов и оже-электроиов (4.15), испускаемых с
поверхности объекта, облученного рентгеновским излучением.
Х-гау
photoelectron
spectroscopy;
XPS
П р и м е ч а н и е — В лабораторных электронных спектрометрахдля РФЭС рентгеновское излучение создает ся
бомбардировкой мишени высокоэнергетическими электронами. Обычные материалы мишени — это магний (Мд)
и алюминий (AI), обеспечивающие излучение фотонов с энергией 1253.6 и 1486.6 эВ соответственно. В на стоящее
время существуют электронные спектрометры, в которых используют мишени из других материалов. Также в
РФЭС применяют источники синхротронного излучения.
[ISO 18115-1. статья 3.23]
4.19 рентгеновская спектроскопия поглощения; РСП; Метод исследования объ-
екта, основанный на определении зависимости коэффициента поглощения объек-
том рентгеновского излучения от энергии падающего на него излучения.
X-ray absorption
spectroscopy;
XAS
П ри м е ча н и я
1 РСП применяют для получения информации о локальной атомной и/или электронной структуре исследуемого
обьекта.
2 РСП подразделяют на следующие виды: спектроскопию тонкой структуры рентгеновского спектра поглощения
(СТСРСЛ), спектроскопию околопороговой структуры рентгеновского спектра поглощения (СОСРСП) и спектро
скопию протяженной тонкой структуры рентгеновского спектра поглощения (СПТСРСП).
4.20
рентгеновская флуоресценция; РФ; Вторичное излучение, возникающее в ре
зультате облучения исследуемого объекта пучком высокоэнергетического рентге
новского излучения.
Х-гау
fluorescence;
XRF
П р и м е ч а н и е — Длина волны РФ является индивидуальной характеристикой конкретного элемента.
[ISO 3497:2000. статья 2.1]
4.21
энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия; ЭДРС: Метод исследо
вания объекта, основанный на регистрации энергетических спектров отдельных
фотонов и их числа и построении цифровой гистограммы, описывающей распре
деление интенсивности рентгеновского излучения по энергии фотонов.
energy-
dispersive X-ray
spectroscopy;
EDS; EDX
[ISO 22309:2011, статья 3.11. определение термина изменено]
4.22
масс-спектромотрия с индуктивно связанной плазмой; ИСП-МС: Метод ис
следования объекта с помощью масс-спектрометра, основанный на регистрации
отдельных ионов и их потоков, испускаемых объектом, пропущенным в виде аэро
золя через индуктивно связанную аргоновую плазму, образованную специальной
горелкой и проходящую внутри высокочастотной катушки индуктивности.
inductively
coupled plasma
mass
spectrometry;
ICP-MS
[ISO 15202-3:2004. статья 3.3.7, определение термина изменено]
4.23
масс-спектромотрия вторичных ионов; МСВИ; Метод исследования объекта с
помощью масс-спектрометра, основанный на регистрации совокупности распреде
ленных в пространстве и/или во времени вторичных ионов объекта, разделенных
по значениям отношения массы иона к его заряду и возникающих при бомбарди
ровке поверхности объекта потоком первичных ионов.
secondary-ion
mass
spectrometry;
SIMS
15