ГОСТ ISO/TS 80004-6—2016
центрифугирование: ДЦ:
Метод разделения частиц жидкости в зависимости от их
размеров и плотности под действием центробежных сил в сепарирующем роторе
центрифуги.
3.4.2 центробежное осаждение частиц в жидкости. ЦОЖ.
дифференциальное
centrifugal liquid
sedimentation;
CLS;
differential
centrifugal
sedimentation;
DCS
П р и м е ч а н и е — В зависимости от плотности частиц (2.9) с помощью ЦОЖ можно выделить частицы разме ром
от 2 нм до 10 мкм для дальнейшего определения их размеров и распределения частиц по размерам (3.1.2). ЦОЖ
обеспечивает одновременное выделение частиц, отличающихся друг от друга по размерам не более чем на 2 %.
3.4.3
гель-проникающ ая хроматография: ГПХ: Вид жидкостной хроматографии, в size-exclusion
chromatography:
SEC
котором разделение веществ основано на элюировании молекул определенного
гидродинамического объема в колонке хроматографа, заполненной пористым не-
адсорбирующим материалом, размеры пор которого соответствуют размерам этих
молекул.
П р и м е ч а н и е — ГПХ можно применять совместно с методом для определения размеров и распределения
по размерам объектов по динамическому рассеянию света (ДРС) (3.2.7).
[ISO 16014-1:2012. статья 3.1]
3.4.4 метод электрочувствительной зоны;
метод Коултера:
Метод определе-electrical zone
sensing;
Coulter counter
ния распределения частиц по размерам и размеров частиц (2.9). находящихся в
растворе электролита, основанный на измерении импульса электрического напря-
жения, возникающего при прохождении частицы через отверстие малого диаметра в
непроводящей перегородке (стенке ампулы).
П ри м е ча н и я
1 Амплитуда импульса напряжения пропорциональна объему частицы, прошедшей через отверстие.
2 Прохождение частицы через отверстие происходит поддействием давления потока жидкости (электролита) или
электрического поля.
3Для определения размеров нанообъектов (2.2) необходимо, чтобы размер отверстия соответствовал размерам
нанодиапазона (2.1).
3.5 Термины и определения понятий, относящ ихся к методам микроскопии
В данном подразделе в кратких формах терминов, представленных аббревиатурой, буква «М»
означает «микроскопия» или «микроскоп» в зависимости от контекста.
3.5.1
scanning probe
microscopy;
SPM
сканирующ ая зондовая микроскопия. СЗМ: Метод исследования объекта с no-
мощью микроскопа, формирующего изображение объекта путем механического
перемещения зонда и регистрации взаимодействия между зондом и поверхностью
объекта.
П ри м е ча н и я
1 Термин «сканирующая зондовая микроскопия» является общим термином для таких понятий, как «атомно
силовая микроскопия» (ACM) (3.5.2). «сканирующая оптическая микроскопия ближнего поля» (СОМБП) (3.5.4).
«сканирующая микроскопия ионной проводимости» (СМИП) и «сканирующая туннельная микроскопия» (СТМ)
(3.5.3).
2 С помощью микроскопов, применяемых в различных методах СЗМ. (ложно получать изображения объек тов
с пространственным разрешением от атомарного, например в СТМ. до 1 мкм. например, в сканирующей
термомикросколии.
[ISO 18115-2, статья 3.30]
7