Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 18.11.2024 по 24.11.2024
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ Р 56647-2015; Страница 4

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ Р 56640-2015 Чистые помещения. Проектирование и монтаж. Общие требования Clean rooms. Design and construction. General requirements (Настоящий стандарт устанавливает общие требования к проектированию и монтажу чистых помещений с учетом их особенностей) ГОСТ Р 56649-2015 Техника ракетно-космическая. Электронная компонентная база иностранного производства. Порядок применения Space-rocket hardware. Electronic components of foreign manufacture. Order of application (Настоящий стандарт распространяется на порядок применения изделий электронной компонентной базы иностранного производства, используемых для создания радиоэлектронной аппаратуры ракетно-космической техники гражданского (научного и социально-экономического) и коммерческого назначения. Настоящий стандарт устанавливает:. - общий порядок и состав работ, проводимых при выборе и оценке правильности выбора и применения изделий электронной компонентной базы иностранного производства; . -перечень требований к изделиям электронной компонентной базы иностранного производства, которые должны быть заданы в техническом задании на разработку радиоэлектронной аппаратуры;. - классификацию изделий электронной компонентной базы по уровню качества;. - состав, форму и порядок заполнения документов для обоснования и разрешения применения изделий электронной компонентной базы иностранного производства; . - основные критерии выбора и оценки правильности выбора и применения изделий электронной компонентной базы иностранного производства;. - формы, виды и порядок заполнения перечней, определяющих номенклатуру изделий электронной компонентной базы иностранного производства; . - правила внесения в конструкторскую документацию наименований изделий электронной компонентной базы иностранного производства и обозначений документов, по которым их применяют. Перечень групп изделий электронной компонентной базы иностранного производства приведен в соответствии с приложением А. Настоящий стандарт является основой для разработки отраслевых нормативных и руководящих документов и нормативных документов предприятий) ГОСТ Р 56639-2015 Технологическое проектирование промышленных предприятий. Общие требования Process design for manufacturing facilities. General requirements (Настоящий стандарт устанавливает общие требования к технологическому проектированию промышленных предприятий (фармацевтическая, медицинская, химическая, радиоэлектронная, приборостроительная, электротехническая промышленность), составу и содержанию технологического раздела проекта с целью выполнения требований технологического процесса и обеспечения выпуска продукции заданной номенклатуры и объема при соблюдении требований обязательных документов)
Страница 4
Страница 1 Untitled document
ГОСТ Р 566472015
Введение
Методы измерений и современные приборы позволили открыть мир нанотехнологий. Определив
характеристики, можно понять свойства и функциональную направленность применения нанообъектов.
Для определения характеристик нанообъектов важно взаимодействие специалистов и ученых,
осуществляющих свою деятельность в различных областях, например материаловедении, биологии,
химии, физике, а также имеющих различный опыт работы, как экспериментальной, так и теоретиче
ской. Информация о характеристиках нанообъектов и возможности их определения необходима и для
представителей проверяющих органов, и специалистов в области токсикологии. С целью обеспечения
правильного понимания специалистами информации о характеристиках нанообъектов, а также для об
мена сведениями о результатах измерений необходимо уточнение понятий и установление стандарти
зованных терминов и соответствующих определений.
В настоящем стандарте термины распределены по следующим разделам:
- раздел 2 «Основные термины и определения»,
- раздел 3 «Термины и определения понятий, относящихся к размерам нанообъектов и методам
их определения»:
- раздел 4 «Термины и определения понятий, относящихся к методам химического анализа»;
- раздел 5 «Термины и определения понятий, относящихся к методам определения других харак
теристик нанообъектов».
Наименования этих разделов сформулированы только для своеобразного руководства по поиску
терминов в настоящем стандарте, так как некоторые термины относятся к методам, с помощью которых
можно определить более одной характеристики нанообъектов, и их можно поместить в другие разделы
стандарта. В подразделе 3.1 приведены основные термины раздела 3, которые использованы в опре
делениях других терминов данного раздела, в том числе терминов, относящихся к устройствам,
при меняемым для определения характеристик нанообъектов.
Большинство методов предусматривает проведение измерений в специальных условиях, вклю
чая и соответствующую подготовку исследуемых объектов, например необходимость размещения на
нообъектов на специальной поверхности, в жидкой среде или вакууме, что может повлечь за собой
изменение характеристик нанообъектов.
Порядок расположения терминов, относящихся к методам определения характеристик нанообъ
ектов. в настоящем стандарте не указывает на преимущественное применение определенных мето
дов. и перечень этих терминов не является исчерпывающим. Методы, термины которых установлены в
настоящем стандарте, более распространены, и их чаще применяют для определения тех или иных
характеристик нанообъектов. чем другие. В таблице 1 приведены наиболее распространенные методы,
применяемые для определения характеристик нанообъектов.
Т а б л и ц а 1 — Наиболее распространенные методы, применяемые для определения характеристик нанообъектов
Характеристика
Методы
Размер
Атомно-силовая микроскопия (ACM), центробежное осаждение частиц в
жидкости (ЦОЖ). система анализа дифференциальной электрической под
вижности частиц (САДЭП), динамическое рассеяние света (ДРС). растровая
электронная микроскопия (РЭМ), анализ траекторий движения частиц (АТДЧ),
просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ)
Форма
Атомно-силовая микроскопия (ACM), растровая электронная микроскопия
(РЭМ), просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ)
Площадь поверхности
Метод Брунауэра. Эммета и Теллера (метод БЭТ)
Химические характеристи
ки поверхности объекта
Масс-спектрометрия вторичных ионов (МСВИ), рентгеновская фотоэлек
тронная спектроскопия (РФЭС)
Химический состав объекта
Масс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой (ИСП-МС), спектро
скопия ядерного магнитного резонанса (ЯМР-спектроскопия)
Электрокинетическийпо
тенциал частиц в суспензии
Определение дзета-потенциала
IV