ГОСТ Р 56647—2015
4.19 рентгеновская спектроскопия поглощения: РСП: Метод исследования
объекта, основанный на определении зависимости коэффициента поглощения
объектом рентгеновского излучения от энергии падающего на него излучения.
X-ray absorption
spectroscopy;
XAS
П р и м е ч а н и я
1 РСП применяют для получения информации о локальной атомной и/или электронной структуре исследуемого
объекта.
2 РСП подразделяют на следующие виды: спектроскопию тонкой структуры рентгеновского спектра поглощения
(СГТСРСП). спектроскопию околопороговой структуры рентгеновского спектра поглощения (СОСРСП) и спектроско
пию протяженной тонкой структуры рентгеновского спектра поглощения (СПТСРСП).
4.20
рентгеновская флуоросценция: РФ: Вторичное излучение, возникающее в
результате облучения исследуемого объекта пучком высокоэнергетического
рентгеновского излучения.
Х-гау
fluorescence;
XRF
П р и м е ч а н и е — Длина волны РФ является индивидуальной характеристикой конкретного элемента.
[ИСО 3497:2000, статья 2.1)
4.21
энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия. ЭДРС: Метод ис
следования объекта, основанный на регистрации энергетических спектров
отдельных фотонов и их числа и построении цифровой гистограммы, описы
вающей распределение интенсивности рентгеновского излучения по энер гии
фотонов.
[ИСО 22309:2011. статья 3.11, определение термина изменено]
energy-
dispersive X-ray
spectroscopy;
EDS: EDX
4.22
масс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой; ИСП-МС: Метод
исследования объекта с помощью масс-спектрометра, основанный на реги
страции отдельных ионов и их потоков, испускаемых объектом, пропущен
ным в виде аэрозоля через индуктивно связанную аргоновую плазму, об
разованную специальной горелкой и проходящую внутри высокочастотной
катушки индуктивности.
[ИСО 15202-3:2004. статья 3.3.7. определение термина изменено]
inductively
coupled plasma
mass
spectrometry;
ICP-MS
4.23
масс-спектрометрия вторичны х ионов; МСВИ: Метод исследования объ
екта с помощью масс-спектрометра, основанный на регистрации совокуп
ности распределенных в пространстве и/или во времени вторичных ионов
объекта, разделенных по значениям отношения массы иона к его заряду, и
возникающих при бомбардировке поверхности объекта потоком первичных
ионов.
secondary-ion
mass
spectrometry;
SIMS
П р и м е ч а н и е — МСВИ подразделяют на динамическую, применяемую для определения элементного со
става нескольких слоев исследуемого объекта как функции глубины, и статическую, применяемую для элемент
ного анализа поверхностного монослоя исследуемого объекта (с целью предотвращения повреждения поверх
ности исследуемого объекта плотность потока первичных ионов должна быть не более 1016 ионов/м2).
[ИСО 18115-1. статья 3.17]
atom-probe
tomography
4.24 атомно-зондовая томография: Метод исследования объекта с помо
щью масс-спектрометра, основанный на регистрации отдельных атомов или
молекул, вылетающих из импульсно распыляемого нановолокна (2.6) (иссле
дуемого объекта).
15