Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 18.11.2024 по 24.11.2024
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ Р 56647-2015; Страница 15

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ Р 56640-2015 Чистые помещения. Проектирование и монтаж. Общие требования Clean rooms. Design and construction. General requirements (Настоящий стандарт устанавливает общие требования к проектированию и монтажу чистых помещений с учетом их особенностей) ГОСТ Р 56649-2015 Техника ракетно-космическая. Электронная компонентная база иностранного производства. Порядок применения Space-rocket hardware. Electronic components of foreign manufacture. Order of application (Настоящий стандарт распространяется на порядок применения изделий электронной компонентной базы иностранного производства, используемых для создания радиоэлектронной аппаратуры ракетно-космической техники гражданского (научного и социально-экономического) и коммерческого назначения. Настоящий стандарт устанавливает:. - общий порядок и состав работ, проводимых при выборе и оценке правильности выбора и применения изделий электронной компонентной базы иностранного производства; . -перечень требований к изделиям электронной компонентной базы иностранного производства, которые должны быть заданы в техническом задании на разработку радиоэлектронной аппаратуры;. - классификацию изделий электронной компонентной базы по уровню качества;. - состав, форму и порядок заполнения документов для обоснования и разрешения применения изделий электронной компонентной базы иностранного производства; . - основные критерии выбора и оценки правильности выбора и применения изделий электронной компонентной базы иностранного производства;. - формы, виды и порядок заполнения перечней, определяющих номенклатуру изделий электронной компонентной базы иностранного производства; . - правила внесения в конструкторскую документацию наименований изделий электронной компонентной базы иностранного производства и обозначений документов, по которым их применяют. Перечень групп изделий электронной компонентной базы иностранного производства приведен в соответствии с приложением А. Настоящий стандарт является основой для разработки отраслевых нормативных и руководящих документов и нормативных документов предприятий) ГОСТ Р 56639-2015 Технологическое проектирование промышленных предприятий. Общие требования Process design for manufacturing facilities. General requirements (Настоящий стандарт устанавливает общие требования к технологическому проектированию промышленных предприятий (фармацевтическая, медицинская, химическая, радиоэлектронная, приборостроительная, электротехническая промышленность), составу и содержанию технологического раздела проекта с целью выполнения требований технологического процесса и обеспечения выпуска продукции заданной номенклатуры и объема при соблюдении требований обязательных документов)
Страница 15
Страница 1 Untitled document
ГОСТ Р 566472015
3.5.10
конф окальная световая микроскопия: Метод исследования объекта с по
мощью светового микроскопа, имеющего диафрагму с малым отверстием,
расположенную перед фокальной плоскостью и позволяющую регистриро
вать только те световые лучи, которые исходят из анализируемой точки объ
екта. блокируя свет от остальных точек.
confocal optical
microscopy
П р и м е ч а н и я
1 Полное изображение исследуемого объекта в конфокальном световом микроскопе получают путем после
довательного сканирования точек объекта. Формирование изображения происходит либо благодаря свойству
инерционности зрения при быстром сканировании, либо посредством использования фотоприемников и элек
тронных запоминающих устройств.
2 Метод конфокальный световой микроскопии позволяет получать изображение объекта с улучшенными кон
трастом и пространственным разрешением за счет блокирования внефокусных лучей.
[ИСО 10934-2:2007, статья 2.11, определение термина изменено]
3.5.11 эллипсомотричоская микроскопия с усилением контраста изобра
жения. ЭМУК: Метод исследования объекта с помощью светового микроскопа
с широкоугольной оптической системой, формирующего изображение путем
усиления контраста изображения объекта скрещенными поляризаторами, по
зволяющими фиксировать отраженный от объекта свет и блокировать отра
женный свет от подложки или предметного стекла.
surface enhanced
ellipsometric
contrast
microscopy;
SEEC
microscopy
П р и м е ч а н и е В микроскопе применяют специальные антиотражающие подложки, усиливающие контраст
изображения и улучшающие разрешающую способность микроскопа в 100 раз.
3.5.12
флуоресценция: Явление поглощения излучения объектом с последующим
выделением поглощенной энергии в виде излучения с большей длиной вол
ны.
[ИСО 18115-2:2010, статья 5.52]
fluorescence
3.5.13 флуоресцентная микроскопия: Метод исследования объекта с помо
щью светового микроскопа, формирующего изображение объекта путем реги
страции испускаемой им флуоресценции (3.5.12).
fluorescence
microscopy
П р и м е ч а н и я
1 В данном методе применяют микроскоп, в котором для возбуждения флуоресценции объекта предусмотрен ис
точник света, а длина волны, испускаемой объектом флуоресценции, всегда больше длины волны света возбуж
дения. Для разделения света возбуждения и испускаемой объектом флуоресценции в микроскопе предусмотрены
специальные фильтры.
2 К методам флуоресцентной микроскопии относят эпифлуоресцентную микроскопию, конфокальную микроско
пию, флуоресцентную микроскопию полного внутреннего отражения (ФМПВО) (3.5.14) и микроскопию сверхвысо
кого разрешения (3.5.15).
3 В данном методе для исследования объектов применяют флуоресцирующие красители. Для объектов, демон
стрирующих при облучении автофлуоресценцию, красители не требуются.
3.5.14
флуоресцентная микроскопия полного внутреннего отражения: ФМПВО:
Метод исследования объекта с помощью светового микроскопа, формирую
щего изображение объекта путем регистрации испускаемой им флуоресцен
ции (3.5.12), возбуждаемой затухающей волной в тонком пограничном слое
раздела двух сред с разными показателями преломления.
[ИСО 10934-2.2007, статья 2.51. определение термина изменено]
total internal
reflectton
fluorescence
microscopy,
TIRF
microscopy
10