ГОСТ Р 56647—2015
П р и м е ч а н и е — В зависимости от плотности частиц (2.9) с помощью ЦОЖ можно выделить частицы разме ром
от 2 нм до 10 мкм для дальнейшего определения их размеров и распределения частиц по размерам (3.1.2). ЦОЖ
обеспечивает одновременное выделение частиц, отличающихся друг от друга по размерам не более чем на 2%.
3.4.3
size-exclusion
chromatography:
SEC
гель-проникающ ая хроматография: ГПХ: Вид жидкостной хроматографии. в
котором разделение веществ основано на элюировании молекул опреде-
ленного гидродинамического объема в колонке хроматографа, заполненной
пористым неадсорбирующим материалом, размеры пор которого соответ
ствуют размерам этих молекул.
[ИСО 16014-1:2012. статья 3.1]
П р и м е ч а н и е — ГПХ можно применять совместно с методом для определения размеров и распределения
по размерам объектов по динамическому рассеянию света (ДРС) (3.2.7).
3.4.4 метод элоктрочувствительной зоны,
метод Коултера
: Метод onpe-electrical zone
деления распределения частиц по размерам и размеров частиц (2.9), на- sensing,
ходящихся в растворе электролита, основанный на измерении импульса Coulter counter
электрического напряжения, возникающего при прохождении частицы через
отверстие малого диаметра в непроводящей перегородке (стенке ампулы).
П р и м е ч а н и я
1 Амплитуда импульса напряжения пропорциональна обьему частицы, прошедшей через отверстие.
2 Прохождение частицы через отверстие происходит под действием давления потока жидкости (электролита) или
электрического поля.
3 Для определения размеров нанообьектов (2.2) необходимо, чтобы размер отверстия соответствовал размерам
нанодиапазона (2.1).
3.5 Термины и определения понятий, относящ ихся к методам микроскопии
В данном подразделе в кратких формах терминов, представленных аббревиатурой, буква «М»
означает «микроскопия» или «микроскоп» в зависимости от контекста.
3.5.1
scanning probe
microscopy;
SPM
сканирующ ая зондовая микроскопия; СЗМ: Метод исследования объекта с
помощью микроскопа, формирующего изображение объекта путем меха-
нического перемещения зонда и регистрации взаимодействия между зондом и
поверхностью объекта.
[ИСО 18115-2. статья 3.30]
П р и м е ч а н и я
1 Термин «сканирующая зондовая микроскопия» является общим термином для таких понятий, как «атомно-
силовая микроскопия» (ACM) (3.5.2), «сканирующая оптическая микроскопия ближнего поля» (СОМБП) (3.5.4).
«сканирующая микроскопия ионной проводимости» (СМИП) и «сканирующая туннельная микроскопия* (СТМ)
(3.5.3).
2 С помощью микроскопов, применяемых в различных методах СЗМ. можно получать изображения объек
тов с пространственным разрешением от атомарного, например в СТМ. до 1 мкм. например в сканирующей
термо-микроскопии.
3.5.2
атомно-силовая микроскопия. ACM (Нрк.
с
к
анирующая силовая ми
к
рос
к
о
пия: ССМ):
Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирую
щего изображение объекта в результате регистрации силы взаимодействия
эондового датчика (кантилевера) с поверхностью объекта в процессе скани
рования.
[ИСО 18115-2. статья 3.2]
atomic force
microscopy;
AFM;
scanning force
microscopy
(deprecated);
SFM
(deprecated)
7