ГОСТ Р 56787—2015
Продолжение таблицы 2
Метод НКПрименениеПреимуществаОграниченияПредставлениеПримечание
результатов
Шерогра-
фия
Обнаружение
подповерхност
ных дефектов и
несплошностей.
изменений в
Хорошо подходит
для высокоскорост
ного. автоматиче
ского контроля в
условиях производ
модуле упругости ства
или внеплоскост-
Подповерхностный
дефект или раз
рыв должен быть
достаточно боль
шим. чтобы вы
звать измеряемую
деформацию под
ной деформациинагрузкой. Состо
яние поверхности,
особенно глян
цевитость. гложет
или наложения
изображений
ОК до и после
нагружения,
мешать шерографи- ций
ческому контролю,
Интерферограм Требуется дополни
ма. создаваемая тельное оборудо
путем изъятиявание для опреде
ления изменений
возникающих пере
гибов поверхности,
и поэтому метод в
определяя и тем качестве количе
самым локалиственного
зуя концентра
ции деформа
ИзмеМожет ис
рениепользоваться
дефордля измерения
мации статической и
динамической
деформации
при растяжении
и деформации
сжатия, а также
Относительно
недорогой, менее
громоздкий, с луч
эометрами (гложет
обеспечить общую
точность лучшую
± 10 % деформа
сдвига, коэффи ции)
циента Пуассона,
изгиба и дефор
мации скручива
ния
что предусматри
вает использова
ние реагентов для
матирования по
верхности (исклю
чение: термальная
шерография)
Отдельные тен
зодатчики нельзя
откалибровать, они
шим разрешением в чувствительны к
сравнении с эксген- воздействию не
желательного шума
и прочим источни
кам погрешности,
например, расши
рение или сжатие
элемента тензодат
чика. изменение
удельного электри
ческого сопротив
ления. гистерезис
и ползучесть в
результате плохого
соединения
Выходные
данные цепи
измерения со
противления
выражены в
милливольтах:
входные — в
вольтах
В зависимости от
искомой чувстви
тельности, устой
чивости к сдвигу,
чувствительности к
изменениям темпе
ратуры или стабиль
ности положения
могут применяться
различные тензо
датчики (напри
мер. датчики с
полупроводниковой
пластиной.тензо
датчики с металли
ческим креплением,
тонкопленочные и
полупроводниковые
тензодатчики рас
сеивания)
фиярушений связи,
расслоений,
пористости, углу
блений. трещин,
включений
в тонких ОК.
обладающих
низкой тепло
проводностью,
имеющих низкую
отражательную
способность!’
поверхности с
высокой из
лучательной
способностью,
и в материалах,
которые эффек
тивно рассеива
ют энергию
вание больших по
верхностей и опре
деление участков,
которые должны
быть подвержены
более тщательному
контролю
материалы имеют
температурные гра
ницы. за пределами
которых может
произойти необра
тимое разрушение
матрицы или волок
на. Обнаружение
от их ориентации
относительно на
правления потоха
тепла. В более
температуры
воздуха из
меряют путем
отображения
контуров одина
ковой темпера
туры (изотерм),
создавая тем
дефекта или не-самым модель
сплошности зависит теплового
излучения, со
относящуюся
с дефектами
поверхности и
толстых материалах подповерхности
возможны только
качественные при
знаки дефектов или
несплошностей
Термогра Обнаружение на Быстрое исследоКомпозитныеРаспределение Существует как
контактный (предус
матривает нанесе
ние покрытия), так
и бесконтактный
метод (основывает
ся на обнаружении
инфракрасного
излучения черного
тела). Термогра
фия бывает либо
пассивной, либо
активной; активная
термография может
подразделяться на
импульсную или
синхронизируемую
5