ГОСТ Р 8.696—2010
6 Метод измерений
Метод измерений межплоскостных расстояний и интенсивностей токовых рефлексов основан на
анализе электронограммы. получаемой в результате дифракции электронного пучка на исследуемом
образцескристаллической внутреннейструктурой. Токовые рефлексы вдифракционнойкартиневозни
кают из-за интерференции электронных пучков, отраженных от системы параллельных кристаллогра
фических плоскостей. Каждый рефлекс на электронограмме соответствует кристаллографическим
плоскостям с определенными значениями индексов Миллера, идентифицирующими ориентацию этих
плоскостей относительно кристалла. По результатам измерения расстояний между центрально-сим
метричными рефлексами на электронограмме вычисляют расстояние между ближайшими друг к другу
параллельными плоскостями, характеризующимися определенными значениями индексов Миллера.
7 Требования безопасности
При проведении измерений необходимо соблюдать правила электробезопасиости по [2]. (3]. тре
бования пообеспечениюбезопасностинарабочихместах поГОСТ12.1.005, ГОСТ 12.1.045, [4], [5]и [6J.а
также требования, установленныевэксплуатационнойдокументации на используемыйэлектронограф.
Рабочие местаоператоров, проводящих измерения, должны бытьаттестованы поусловиямтруда
в соответствии с требованиями трудового законодательства.
8 Требования к квалификации операторов
Измерения должны проводить штатные сотрудники предприятия, имеющие высшее или среднее
специальное образованно, соответствующую профессиональную подготовку, опыт самостоятельной
работы с электронографом не менее одного года, прошедшие инструктаж по электро- и радиационной
безопасности и изучившие требования настоящего стандарта.
9 Условия измерений
Измерениядолжны проводиться в следующих условиях:
- температура окружающей среды.................................(20 i 5) °С;
- относительная влажность воздуха..............................(60 ^ 15) %;
- атмосферное давление.................................................(101 ±5) кЛа;
- температура охлаждающей воды.................................(15«5)°С;
* напряжение питания в сети............................................(220111) В;
- частота питающей сети.................................................(50 ♦0,2) Гц.
10 Подготовка и проведение измерений
10.1 Подготовку к измерениям межплоскостных расстояний в кристалле и интенсивностей реф
лексов надифракционной картине проводят в порядке, указанном в 10.1.1—10.1.4.
10.1.1 Измеряют параметры окружающей среды, температуру охлаждающей воды и показатели
качества питающей электрическойсети при соблюдении условий, указанных в разделе 9.
10.1.2 Проводят внешнийосмотр электронографа. при которомдолжно быть установлено:
- соответствие комплекта поставки электронографа данным, указанным в паспорте;
- отсутствие механических повреждений функциональныхэлементов электронографа.
10.1.3 Включаютэлектронограф в соответствии с инструкцией по его эксплуатации.
10.1.4 Осуществляют прогрев электронно-оптической, сканирующей и измерительной систем
электронографа в течение 2ч.
10.2 Значение постоянной электронографа определяют следующим образом.
10.2.1 Калибровочный образец помещают в кристаллодержатель. который устанавливают в
колонну электронографа.
10.2.2 Выбираютучасток калибровочного образца путем перемещения образца с помощью крис-
таллодержателя и анализа электронограмм. полученных в режиме быстрого сканирования. При этом
электронограмма выбранного участка, визуально наблюдаемая на экранемонитора электронно-вычис
лительного устройства, должна обладать наиболее четко выраженной контрастностью и яркостью
рефлексов.
4