ГОСТ Р 8.696—2010
Н А Ц И О Н А Л Ь Н Ы ЙС Т А Н Д А Р ТР О С С И Й С К О ЙФ Е Д Е Р А Ц И И
Государственная система обеспечения единства измерений
МЕЖПЛОСКОСТНЫЕ РАССТОЯНИЯ В КРИСТАЛЛАХ
И РАСПРЕДЕЛЕНИЕ ИНТЕНСИВНОСТЕЙ В ДИФРАКЦИОННЫХ КАРТИНАХ
Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра
State system for ensuring the uniformity of measurements.
Interplanarspacing» in crystals and the intensity distribution in diffraction patterns.
Methods for measurement by means of an electron diffractometer
Дата введения — 2010—09—01
1 Область применения
Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстоя
ний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах (далее — кристаллах)
и распределений интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных при дифракции
пучка электронов на кристаллах, с помощьюэлектронного дифрактометра (далее — электронографа).
Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в
диапазонелинейныхразмеровот 0.08до 20.00нми распределениятоковых интенсивностей рефлексов
в дифракционных картинах, полученныхот кристаллов, вдиапазоне от 10~14до 10 6А.
Настоящий стандарт не устанавливает методику определения типа элементарной решетки крис
талла и индексов Миллера плоскостей кристалла, между которыми вычисляют расстояния.
2 Нормативные ссылки
В настоящем стандарте использованы нормативные ссылки на следующие стандарты:
ГОСТ 12.1.005—88 Система стандартов безопасности труда. Общие санитарно-гигиенические
требования к воздуху рабочей зоны
ГОСТ 12.1.045—84 Система стандартов безопасности труда. Электростатические поля. Допус
тимые уровни нарабочих местах итребования к проведению контроля
П р и м е ч а н и е — При пользовании настоящим стандартом целесообразно проверить действие ссылоч
ных стандартов в информационной системе общего пользования — на официальном сайте Федерального
агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет или по ежегодно издаваемому информа
ционному указателю «Национальные стандарты», который опубликован по состоянию на 1января текущего года, и
по соответствующим ежемесячно издаваемым информационным указателям, опубликованным в текущем году.
Если ссылочный стандарт заменен (изменен), то при пользовании настоящим стандартом следует руководство
ваться заменяющим (измененным) стандартом. Если ссылочный стандарт отменен без замены, то положение, в
котором дана ссылка на него, применяется в части, не затрагивающей эту ссылку.
3 Термины и определения
В настоящем стандарте применены термины по РМГ29(1). атакже следующиетермины ссоответ
ствующими определениями.
3.1межплоскостное расстояние в кристалле: Минимальное расстояние между кристаллогра
фическими плоскостями вкристалле, характеризующимисяопределенным набором значений индексов
Миллера.
Издание официальное
1