Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 29.12.2025 по 04.01.2026
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ Р 8.696-2010; Страница 10

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ Р 53770-2010 Лифты пассажирские. Основные параметры и размеры Passenger lifts. Basic parameters and dimensions (Настоящий стандарт распространяется на пассажирские лифты для зданий (сооружений) различного назначения. Пассажирские лифты, включенные в настоящий стандарт, предназначены для установки в новые здания (сооружения). Настоящий стандарт может быть использован в качестве нормативной базы при установке новых лифтов в существующие здания (сооружения). Настоящий стандарт не распространяется на пассажирские лифты со скоростью движения кабины более 6,0 м/с. Основные параметры и размеры лифтов могут отличаться от включенных в настоящий стандарт при условии соблюдения требований безопасности, установленных [1]) ГОСТ Р 8.698-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer (Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения следующих измерений с помощью автоматического рентгеновского малоуглового дифрактометра:. - максимальных размеров и электронных радиусов инерции наночастиц в монодисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм;. - распределения наночастиц по размерам в полидисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм;. - общей толщины и размера периода повторения слоев в многослойных пленках толщиной от 1 до 100 нм. Настоящий стандарт распространяется на:. - материалы, содержащие системы наночастиц со среднеарифметическим расстоянием между ними не менее 10 максимальных линейных размеров, с однородной электронной плотностью, большей или меньшей электронной плотности окружающей их среды;. - многослойные пленки с известным числом одинаковых групп слоев, изготовленные на твердых плоских подложках) ГОСТ Р 53440-2009 Основные нормы взаимозаменяемости. Характеристики изделий геометрические. Нормальные конусности и углы конусов Basic norms of interchangeability. Geometrical product specifications. Standard rates of taper and cone angles (Настоящий стандарт распространяется на применяемые в машиностроении конусности и углы конусов гладких конических элементов деталей и устанавливает ряды нормальных конусностей от 1:0,289 до 1:500 и углов конусов от 0,114 град. до 120 град. Настоящий стандарт не распространяется на конусности и углы конусов, связанные расчетными зависимостями с другими принятыми размерами, негладкие конические элементы деталей (призматические элементы, конические резьбы, конические зубчатые передачи и т.д). Правила указания размеров и допусков конических поверхностей на чертежах согласно ГОСТ 2.320)
Страница 10
Страница 1 Untitled document
ГОСТ Р 8.696—2010
d ] значениемежплоскостногорасстояниядлясистемы кристаллографическихплоскостей, от ко
торыхформируется выбранное по 11.1.1у’-едифракционное кольцо, приведенное в паспорте
(формуляре) калибровочногообразца, нм;
S/1* суммарноесреднеквадратическоеотклонениемежплоскостногорасстояния(У|1’),указанное в
паспорте (формуляре) или вычисленное на основе погрешности, приведенной в паспорте
(формуляре)калибровочногообразца, дляусловийокружающейсреды, установленных в раз
деле 9, нм;
т — числовыбранныхпо 11.1.1 дифракционныхколецнаэлектронограмме калибровочного образ
ца.
11.1.4Определяют среднеарифметическое значение постоянной электронографа В. мм нм, по
формуле
(
11
.
2
)
где6, — /-езначениепостояннойэлектронографа. вычисленноепо 11.1.3 по данным /-й электронограм-
мы. мм нм;
п число регистраций электронограммы одного и того же участка калибровочного образца
по 10.2.5.
11.2 Результаты измерений угловых координат рефлексов на дифракционной картине исследуе
мого кристалла обрабатывают в порядке, указанном а 11.2.111.2.3.
11.2.1 На г-й электронограмме кристалла (/ = 1.2
.....
/) присваивают порядковые номера дифрак
ционным отражениям по мере их удаления от центрадифракционной картины, начиная с наименьшего.
С помощью программного обеспечения электронно-вычислительного устройства вычисляют расстоя
ния 2rul в миллиметрах между парами центрально-симметричныхнаиболее ярких и контрастныхреф
лексов. имеющих одинаковые расстояния от центра (одинаковые межплоскостные расстояния) с
номером к.
11.2.2 Вычисляют среднеарифметическое значение расстояния между рефлексами ,А|.мм, по
формуле
i x * *
7г’к)-------
(11.3)
где 2г}к) расстояние междудвумя рефлексами с номером к на /-й электронограмме. вычисленное
по 11.2.1, мм:
/ — число регистраций электронограммы одного и того же участка исследуемого кристалла
по 10.3.5.
11.2.3Вычисляютмежплоскостное расстояние tf*\ нм. междупараллельными плоскостями, фор
мирующимидифракционные отражения с номером к. по формуле
2ptA.
<**> = _
(11.4)
гдев среднеарифметическоезначение постояннойэлектронографа. вычисленноепо11.1.4, мм нм;
(А среднеарифметическое значение расстояния между рефлексами с номером к, вычисленное
по 11.2.2, мм.
11.3Среднеарифметическое значение интенсивности каждого токового рефлекса /, А. в дифрак
ционной картине вычисляютпоформуле
I
где I, значение интенсивности рассматриваемого рефлекса на /-й электронограмме. измеренное
по 10.3.6, А;
/ — число регистраций электронограммы одного и того же участка калибровочного образца
по 10.3.5.
6