Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 29.12.2025 по 04.01.2026
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ Р 8.696-2010; Страница 14

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ Р 53770-2010 Лифты пассажирские. Основные параметры и размеры Passenger lifts. Basic parameters and dimensions (Настоящий стандарт распространяется на пассажирские лифты для зданий (сооружений) различного назначения. Пассажирские лифты, включенные в настоящий стандарт, предназначены для установки в новые здания (сооружения). Настоящий стандарт может быть использован в качестве нормативной базы при установке новых лифтов в существующие здания (сооружения). Настоящий стандарт не распространяется на пассажирские лифты со скоростью движения кабины более 6,0 м/с. Основные параметры и размеры лифтов могут отличаться от включенных в настоящий стандарт при условии соблюдения требований безопасности, установленных [1]) ГОСТ Р 8.698-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer (Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения следующих измерений с помощью автоматического рентгеновского малоуглового дифрактометра:. - максимальных размеров и электронных радиусов инерции наночастиц в монодисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм;. - распределения наночастиц по размерам в полидисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм;. - общей толщины и размера периода повторения слоев в многослойных пленках толщиной от 1 до 100 нм. Настоящий стандарт распространяется на:. - материалы, содержащие системы наночастиц со среднеарифметическим расстоянием между ними не менее 10 максимальных линейных размеров, с однородной электронной плотностью, большей или меньшей электронной плотности окружающей их среды;. - многослойные пленки с известным числом одинаковых групп слоев, изготовленные на твердых плоских подложках) ГОСТ Р 53440-2009 Основные нормы взаимозаменяемости. Характеристики изделий геометрические. Нормальные конусности и углы конусов Basic norms of interchangeability. Geometrical product specifications. Standard rates of taper and cone angles (Настоящий стандарт распространяется на применяемые в машиностроении конусности и углы конусов гладких конических элементов деталей и устанавливает ряды нормальных конусностей от 1:0,289 до 1:500 и углов конусов от 0,114 град. до 120 град. Настоящий стандарт не распространяется на конусности и углы конусов, связанные расчетными зависимостями с другими принятыми размерами, негладкие конические элементы деталей (призматические элементы, конические резьбы, конические зубчатые передачи и т.д). Правила указания размеров и допусков конических поверхностей на чертежах согласно ГОСТ 2.320)
Страница 14
Страница 1 Untitled document
ГОСТ Р 8.696—2010
Приложение А
(справочное)
Результаты измерений межплоскостных расстояний в кристалле
и интенсивности рефлексов в дифракционной картине
А.1 Результаты измерений межплоскостных расстояний а кристалле и интенсивности рефлексов в дифрак
ционной картине исследуемого кристалла оформляют в протоколе измерений по форме, приведенной в табли це
А.1.
Т а б л и ц а А.1 Результаты измерений межплоскостных расстояний в кристалле и интенсивности рефлексов в
дифракционной картине исследуемого кристалла
Номер дифракционного
кольца.
к
Мсжппоскостное
Относительная
расстояние
<< 1 А (/к>).
погрешность измерения
нм. при доверительной
межплоскостного
вероятности
Р
в 0.95
расстояния Sj,*1. %
Интенсивность
рефлексов (/ »Д/). А
при доверительной
вероятности Р . 0,95 и
числе регистраций,
равном
1
Относительная
погрешность измерения
интенсивности
рефлексов 6&/.
%
12345
1
......
2
...
...
П р и м е ч а н и е В конце таблицы следует привести определения используемых в таблице обозначе
ний.
А.2 В таблице А.1 а графе 1указывают номера дифракционных колец
к,
пронумерованных по 11.2.1. В гра
фе 2приводят измеренные значения межплоскостных расстояний между кристаллографическими плоскостями, от
которых сформировались соответствующие дифракционные кольца, с указанием доверительных границ суммар
ной погрешности измерения каждого межплоскостного расстояния. В графе 3 приводят вычисленные значения
относительных погрешностей измерений межплоскостных расстояний в исследуемом кристалле.
В графе 4 должна быть приведена информация об интенсивности рефлексов, образующих дифракционную
картину кристалла. Интенсивность рефлексов вкаждойдифракционной картине указываютв определенном поряд
ке. например, начиная с рефлекса с самым большим межплоскостным расстоянием и далее до наименьшего
расстояния. При обработке электронограмм кристалла споликристаллической структурой указываютсреднеариф
метическое значение десяти измерений интенсивности в разных точках, равномерно распределенных по дифрак
ционному кольцу. Измеренные значения интенсивности токовых рефлексов должны быть приведены с
вычисленными для нихдоверительными границами погрешностей измерений.
В графе 5 для каждого значения интенсивности рефлекса указывают вычисленное значение относительной
погрешности измерений.
10