Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 29.12.2025 по 04.01.2026
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ Р 8.696-2010; Страница 11

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ Р 53770-2010 Лифты пассажирские. Основные параметры и размеры Passenger lifts. Basic parameters and dimensions (Настоящий стандарт распространяется на пассажирские лифты для зданий (сооружений) различного назначения. Пассажирские лифты, включенные в настоящий стандарт, предназначены для установки в новые здания (сооружения). Настоящий стандарт может быть использован в качестве нормативной базы при установке новых лифтов в существующие здания (сооружения). Настоящий стандарт не распространяется на пассажирские лифты со скоростью движения кабины более 6,0 м/с. Основные параметры и размеры лифтов могут отличаться от включенных в настоящий стандарт при условии соблюдения требований безопасности, установленных [1]) ГОСТ Р 8.698-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer (Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения следующих измерений с помощью автоматического рентгеновского малоуглового дифрактометра:. - максимальных размеров и электронных радиусов инерции наночастиц в монодисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм;. - распределения наночастиц по размерам в полидисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм;. - общей толщины и размера периода повторения слоев в многослойных пленках толщиной от 1 до 100 нм. Настоящий стандарт распространяется на:. - материалы, содержащие системы наночастиц со среднеарифметическим расстоянием между ними не менее 10 максимальных линейных размеров, с однородной электронной плотностью, большей или меньшей электронной плотности окружающей их среды;. - многослойные пленки с известным числом одинаковых групп слоев, изготовленные на твердых плоских подложках) ГОСТ Р 53440-2009 Основные нормы взаимозаменяемости. Характеристики изделий геометрические. Нормальные конусности и углы конусов Basic norms of interchangeability. Geometrical product specifications. Standard rates of taper and cone angles (Настоящий стандарт распространяется на применяемые в машиностроении конусности и углы конусов гладких конических элементов деталей и устанавливает ряды нормальных конусностей от 1:0,289 до 1:500 и углов конусов от 0,114 град. до 120 град. Настоящий стандарт не распространяется на конусности и углы конусов, связанные расчетными зависимостями с другими принятыми размерами, негладкие конические элементы деталей (призматические элементы, конические резьбы, конические зубчатые передачи и т.д). Правила указания размеров и допусков конических поверхностей на чертежах согласно ГОСТ 2.320)
Страница 11
Страница 1 Untitled document
ГОСТ Р 8.696—2010
12 Контроль погрешности результатов измерений
12.1 Среднеквадратическое отклонение Sg . нм мм, ьго значения постоянной электронографа,
вычисленное по 11.1.3 поданным /-й электронограммы. вычисляют по формуле
(
12
.
1
)
где2^ — значение диаметра/-го дифракционного кольца на ьй электронограмме калибровочного об
разца. вычисленное по 11.1.2. мм,
S<-> погрешностьизмерениямежплоскостногорасстоянияс/j80.указанная впаспорте(формуляре)
калибровочногообразца при условияхокружающей среды, приведенных в разделе 9, нм;
т — число выбранныхпо11.1.1дифракционныхколецна электронограммекалибровочного образ
ца.
12.2Среднеквадратическое отклонение Sg-, мм нм, среднеарифметического значения постоян
ной электронографа в. определяемое для всех п зарегистрированных электронограмм. вычисляют по
формуле
<1 2 2 >
rfleSfi погрешность измерения/-го значения постоянной электронографа, вычисленная по 12.1 по
данным /-йэлектронограммы калибровочногообразца, нм мм;
п число регистраций электронограммы одного и того же участка калибровочного образца
по 10.2.5.
12.3Среднеквадратическую погрешность S ^. мм. результата измерений среднеарифметичес
когозначениярасстояния 2Т) междурефлексами на к-м кольцедифракционной картины исследуемого
кристалла вычисляютпо формуле
(12.3)
гдв2г<к) расстояние междудвумя рефлексами с номером к на ьй электронограмме, вычисленное
по 11.2.1, мм;
2rik) среднеарифметическое значение расстояния междурефлексамис номеромк, вычисленное
по 11.2.2, мм;
/ — число регистраций электронограммы одного и того же участка исследуемого кристалла
по 10.3.5.
12.4Суммарную погрешность S^k’. нм, измерения межплоскостного расстояния между парал
лельными плоскостями, формирующими дифракционные отражения с номером к, вычисляют по фор
муле
S‘*> = d(lt>
(12.4)
где межплоскостное расстояниемеждупараллельнымиплоскостями кристалла, формирующими
дифракционные отражения с номером к. вычисленное по 11.2.3, нм;
В — среднеарифметическое значение постоянной электронографа. вычисленное по 11.1.4,
мм нм;
S- суммарная погрешность измерения среднеарифметического значения постоянной электро
нографа. вычисленная по 12.2. мм нм;
2г’к) среднеарифметическоезначение расстояния междупарой рефлексовсномером к. вычислен
ное по 11.2.2, мм;
7