Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 29.12.2025 по 04.01.2026
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ Р 8.696-2010; Страница 6

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ Р 53770-2010 Лифты пассажирские. Основные параметры и размеры Passenger lifts. Basic parameters and dimensions (Настоящий стандарт распространяется на пассажирские лифты для зданий (сооружений) различного назначения. Пассажирские лифты, включенные в настоящий стандарт, предназначены для установки в новые здания (сооружения). Настоящий стандарт может быть использован в качестве нормативной базы при установке новых лифтов в существующие здания (сооружения). Настоящий стандарт не распространяется на пассажирские лифты со скоростью движения кабины более 6,0 м/с. Основные параметры и размеры лифтов могут отличаться от включенных в настоящий стандарт при условии соблюдения требований безопасности, установленных [1]) ГОСТ Р 8.698-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer (Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения следующих измерений с помощью автоматического рентгеновского малоуглового дифрактометра:. - максимальных размеров и электронных радиусов инерции наночастиц в монодисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм;. - распределения наночастиц по размерам в полидисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм;. - общей толщины и размера периода повторения слоев в многослойных пленках толщиной от 1 до 100 нм. Настоящий стандарт распространяется на:. - материалы, содержащие системы наночастиц со среднеарифметическим расстоянием между ними не менее 10 максимальных линейных размеров, с однородной электронной плотностью, большей или меньшей электронной плотности окружающей их среды;. - многослойные пленки с известным числом одинаковых групп слоев, изготовленные на твердых плоских подложках) ГОСТ Р 53440-2009 Основные нормы взаимозаменяемости. Характеристики изделий геометрические. Нормальные конусности и углы конусов Basic norms of interchangeability. Geometrical product specifications. Standard rates of taper and cone angles (Настоящий стандарт распространяется на применяемые в машиностроении конусности и углы конусов гладких конических элементов деталей и устанавливает ряды нормальных конусностей от 1:0,289 до 1:500 и углов конусов от 0,114 град. до 120 град. Настоящий стандарт не распространяется на конусности и углы конусов, связанные расчетными зависимостями с другими принятыми размерами, негладкие конические элементы деталей (призматические элементы, конические резьбы, конические зубчатые передачи и т.д). Правила указания размеров и допусков конических поверхностей на чертежах согласно ГОСТ 2.320)
Страница 6
Страница 1 Untitled document
ГОСТ Р 8.696—2010
П р и м е ч а н и е Индексы Миллера набор из трех целых чисел, характеризующий пространственно-
угловую ориентацию кристаллографических плоскостей в кристалле так. что определенный набор их значений со
ответствует некоторой совокупности параллельных плоскостей в кристалле.
3.2 токовый рефлекс: Обособленная область на электронограмме, локально отличающаяся от
окружающих ее областей большей яркостью (на мониторе электронно-вычислительного устройства
регистрирующей системы) иизмеряемая за счет попадания надетектор электронного пучка при выпол
нении условийдифракции.
П р и м е ч а н и е Множество токовых рефлексов формирует дифракционную картину.
3.3 электрометрическая электронограмма (электронограмма): Дифракционная картина крис
талла. зарегистрированнаяс помощью электрическогодетектора путем измеренияэлектронного тока в
каждой точке исследуемогоучасткадифракционной картины.
3.4 дифракционное кольцо (токовых рефлексов): Совокупность токовых рефлексов на элект-
ронограмме, находящихся на одном расстоянии отее центра.
3.5 эллиптичность (электронографа): Отклонение геометрической формы дифракционного
кольца от окружности.
П р и м е ч а н и е Эллиптичность количественно определяют отношением разности значений диаметров
одного и того же дифракционного кольца а двух взаимно перпендикулярных направлениях к большему из этих диа
метров.
3.6 интенсивность (токового рефлекса): Яркость токового рефлекса на электрометрической
электронограмме.
П р и м е ч а н и е Интенсивность токового рефлекса измеряют силой тока электронного пучка, падающе
го на детектор и формирующего данный рефлекс.
3.7 постоянная электронографа: Числовая величина, зависящая от геометрических парамет
ров и режима работы электронографа и определяющая взаимосвязь между линейными расстояниями
на получаемой электронограмме и межплоскостными расстояниями в кристалле.
П р и м е ч а н и е Постоянная электронографа равна удвоенному произведению значения длины волны
падающих на кристалл электронов на расстояние от точки вхождения пучка а кристалл до детектора.
3.8 погрешность (результата) измерения: Отклонение результата измерения от истинного
(действительного) значения измеряемой величины (1).
3.9 абсолютная погрешность измерения: Погрешность измерения, выраженная в единицах
измеряемой величины [1].
3.10 относительная погрешностьизмерения: Погрешностьизмерения, выраженнаяотношени
ем абсолютной погрешности измерения к действительному или измеренному значению измеряемой
величины (1].
3.11 статистическая погрешность измерения интенсивности (токового рефлекса): Относи
тельная погрешностьизмерения интенсивноститоковогорефлекса на каждомотдельном шагесканиро
ваниядифракционной картины в режиме счета токовых рефлексов надетекторе.
П р и м е ч а н и е Статистическая погрешность измерения интенсивности равна отношению единицы к
корню квадратному от заданного количества токовых импульсов на детектора при накоплении сигнала на каждом
отдельном шаге сканирования дифракционной картины.
3.12 средноквадратическая погрешность результата измерений среднеарифметического:
Оценка S7 случайной погрешности среднеарифметического значения результата измерений одной и
той же величины в данном ряду измерений, вычисляемая поформуле
где х, результат/’-гоединичного измерения;
х — среднеарифметическое значение измеряемой величины из п единичных результатов;
п число единичных измерений в ряду[1].
3.13доверительные границы погрешности (результата измерений): Наибольшее инаимень
шее значения погрешности измерений, ограничивающие интервал, внутри которого с заданной вероят ностью
находится искомое (истинное)значение погрешности результата измерений [1].
(3.1)
2