ГОСТ Р ИСО 11843-2—2007
5.3.4 Вычисление критических значений
Критическое значение отклика определяют по формуле
с
Критическое значение приведеэ
нной
п
е
р
е
м
е
нной
состояния
оorпределяется по формуле
I
£г,гв - г2г<
(23)
Ч * ~ Ц ’
(24)
У с - 6 *
х.
ьU
(25)
где
xw = Т21ТУ\
(26)
sx*v>~ Ъ — Т*1ТЛ;
(27)
*2
=
t t t j
/-1/
I
-1
w t< y *
- а - Ьх, )2,
(28)
где r095 (v)— квантиль /-распределения уровня 95 % с v = IJ - 2 степенями свободы.
5.3.5 Вычисление минимального обнаруживаемого значения
Минимальное обнаруживаемое значение определяют по формуле
(29)
где 8 = S(v; a; (J)— значение параметра нецентральности в соответствии с 5.2.4.
Так как a2(xd)зависит от xd. значение ха следует вычислять итеративным способом.
Итеративная процедура начинается сa(xd)0 = ст0 и xd0.На следующем итеративном шаге вычис
ляют n(xdЬ = o(xd0) и используют в формуледля xd.получая xd1 .... Во многих случаях, первый итера
тивный шаг заметно не изменяет значение xd. Приемлемое значение для xd может быть получено в
третьем итеративном шаге.
6 Минимальное обнаруживаемое значение для метода измерений
Минимальное обнаруживаемое значение, полученное при конкретной калибровке, показывает
способность калиброванного метода измерений для соответствующей серии измерений обнаруживать
значение приведенной переменной состояния, соответствующей наблюдаемому действительному
состоянию, отличное от нуля. Таким образом, минимальное обнаруживаемое значение для метода
измерений— этонаименьшеезначениеприведенной переменной состояния, котороеможет бытьобна
руженоотличным от нулясвероятностью (1 — р). Минимальныеобнаруживаемые значенияразличают
сядляразличныхкалибровок. Минимальныеобнаруживаемыезначения различныхсерийизмерений:
- для конкретного процесса измерений, основанного на том же самом типе процесса измерений;
- для типа процесса измерений, основанного на том же самом методе измерений;
- для метода измерений можно интерпретироватькак реализацию случайной величины, для кото
рой параметры распределения можно рассматривать как характеристики процесса измерений, типа
процесса измерений или метода измерений, соответственно.
Если для конкретного процесса измерений выполненоm последовательных калибровокдля опре
деления минимального обнаруживаемого значения приведенной переменной состояния xd. то можно
использоватьm минимальных обнаруживаемыхзначенийxd1.xd2.... xdmдля определения минимально го
обнаруживаемого значения для метода измерений при следующих условиях:
a) процесс измерений не изменяется;
b
) распределение значений xdунимодально и не имеет удаленных значений xd;
c) планирование эксперимента (включая количество стандартных состояний и количество откли
ков процедуры J, К и L) одинаково для каждой из калибровок.
7