ГОСТ Р МЭК 60730-1-2002
Предварительно части, подвергаемые испытанию, выдерживают в течение 24 ч в атмосфере, имею
щей температуру от 15 гb 35 ‘С и относительную влажность от 45 % до 75 %.
Поверхность части, подвергаемой испытанию, размещают горизонтально и давят на nee салой в
20 Н с помощью стального шарика диаметром 5 мм. Толщина образца должна быть неменее 2,5.ми: при
необходимости, укладывают два ши более слоев части, подвергаемой испытанию.
Испытание проводят в термокамере при наибольшей из следующихтемператур:
• на (20 ± 2) *С К 15 ± 2) ’С для управляющих устройств, предназначенных для встраивания в
приборы, входящие в область распространения ГОСТ Г МЭК 335- // больше максимальной температуры,
измеренной при проведении испытаний поразделу 14. ши
-(75 ±2) “С, или
- при температурев соответствии с декларацией.
Передначалом испытаний подставка и шарик должны иметьуказанную испытательную темпера-
туру.
Через / ч шарикудаляют с образца, образец охлаждают прибшзителыю докомнатной температуры,
погружая его на Ю с е холодную воду. Измеряемый диаметр отпечатка шарика не должен
превышать 2 мм.
П р и м е ч а н и е — Испытание не проводят на частях, изготовленных из керамических материалов.
21.2.6 Второе испытание давлением шарика
Испытание давлением шарика проводят по 21.2.5, но температура в термокамере должна состав
лять (Ть± 2) "С, где:
равна наибольшему из следующих значений:
- 100 ’С, если 7ui^ составляет 30 ’С и выше, но не превышает 55 ’С;
- 125 ’С для управляющих устройств, предназначенных для встраивания в приборы, входящие в
область распространения ГОСТ Р МЭК 335-1 (за исключением управляющихустройств, встраиваемых в
шнуры), и для другихуправляющихустройств, когда ТиjKtсоставляет 55 *Си более, но не превышает 85 “С;
- (Тс + 40)’С, если Tuixt = 85 ’С ши выше;
- на 20 Кбольше максимальнойтемпературы, достигнутой при проведении испытаний поразделу 14,
если при зтом значение температуры оказывается более высоким:
- см. приложение И.
Пр и м с ч а й к е —Данное испытание не проводят на частях, изготовленных из керамических матери
алов.
21.2.7 Стойкость к образованию токоведущих мостиков
Все неметаллические части, для которых определены пути утечки между токоведущими частями
различной полярности, между токоведущими частями и заземленными металлическими частями и между
токоведущими частями и доступными поверхностями (если зто требуется по разделу 20), должны быть
стойкими к образованию токоведущихмостиков в соответствии с декларацией.
11 р и м е ч а н и с —Установленные значения стойкости к образованию токоведущих мостиков даны
либо в части 2. либо в соответствующих стандартах на оборудование.
Управляющие устройства, предназначенные для работы при сверхнизком напряжении, не под
вергают испытанию на стойкость к образованию токоведущих мостиков.
П р и м е ч а н и с — Внутри управляющего устройства различные части могут иметь разные значения
КИТ в соответствии с микроусловиями окружающей среды.
Соответствие требованию проверяют испытаниями по G.4 приложения G. проводимыми при
напряжениях, указанных в таблице 7.2, пункт 30:
- НЮВ:
- 175 В:
- 250 В;
- 4(ЮВ:
- 600 В.
П р и м е ч а н и е —Для целей настоящею испытания близость искрящихся контактов нс рассматрива
ют в качестве фактора, повышающею осаждение внешнего проводящею материала, как это полагают мри
испытаниях по разделу 17, после которых следует испытание на электрическую прочность по разделу 13, а
считают достаточным определение воздействия загрязнения внутри управляющею устройства.