ГОСТ Р МЭК 60730-1-2002
Т а б л и ц аН.11.12.6 —Комбинации аналитических способов при разработке аппаратного обеспечения
ческогоспособа
Илимсиовамис аналити
а
ьС«Iсг
*
h
i
j
k1mnо
p
Н.2.17.5ОсмотрX
XXX
XXXX
Н.2.17.9 С
квозной
конт
роль
XXXX
XXXX
Н.2.17.7.1 СтатическийX
анализ
X
XX
Н.2.17.1 Динамический
анализ
XX
XX
Н.2.17.3 Анализ аппарат
ного обеспечения
XX
XX
Н.2.17.4 Моделирование
аппаратногообеспечения
XX
XX
Н.2.17.2 Расчет шпснсив-X
носги отказов
XXXXXXX
Н.2.20.2 Анализ состоя
ния отказов гг их послед
ствий
XXXXXXXX
Н.2.17.6 ЭксплуатационX
ные испытания
XXXXXXX
XXXXXXXX
Обозначение: X —аналитический способ при разработке аппаратного обеспечения применяют.
H.11.12.6.1 Для управляющих устройств с функциями программною обеспечения класса С изготовитель
при разработке программного обеспечения должен использовать системные испытания (Н.2.17.8) и осмотр
(Н.2.17.5) или сквозной контроль (Н.2.17.9), или статический анализ (Н.2.17.7.1).
Н.11.12.7 Для управляющих устройств с функциями программного обеспечения, за исключением
программного обеспечения класса А. изготовитель должен предусмотреть возможность контроля поврежде
ния / ошибки в частях и данных, обеспечивающих безопасность и перечисленных в таблице Н.11.12.7 и
таблице 7.2. пункт 68.
Т аб л и ц а
Н.И.12.7’*
Комno-
раммного
ПоврсАДС-
пис/ошмбка
Класс прог•
обеспечении
Допустимые меры1’
’4
”
Опредс.те-
ине
Вс
1.ЦПУ
1.1
Регистры
Констант-тр
ная
Н.2.16.5
Н.2.16.6
Н.2.19.6
Н.2.19.8.2
Поврежде-
нис иосто-
янного тока
Н.2.18.15
H.2.I8J
Функциональная проверка, или
периодическая самопроверка с использованием:
- проверки статической памяти, или
- зашиты слов с одноразрядной избыточностью
тр
Сравнение избыточного ЦПУ с использованием:
- взаимного сравнении
- независимого устройства сравнения аппаратного обсс-
печения, или
определение внутренней ошибки, или
избыточная память с функцией сравнения, или
периодическая самопроверка с использованием:
Н.2.18.9
Н.2.19.5
146