ГОСТ Р 55723-2013/ISO/TS 12805:2011
Окончание таблицы В.2
Порядковый
номер
ХарактеристикаМетодКраткое описание метода
метр и распреде
лениенановоло
кон по диаметру
2.14Среднийдиа СКРМетод СКР основан на комбинационном
СТМ
2.15 Средняя длина РЭМ
и распределение
нановолоконпо
длине
(рамановском) рассеянии монохроматического
света. Эффект Рамана - неупругое рассеяние
света (с изменением частоты/длины волны),
сопровождающееся переходами вещества меж
ду колебательными, вращательными или элек
тронными уровнями энергии. С помощью СКР
исследуютмолекулярныеэнергетические
уровни. Результаты, полученные с помощью
СКР, применяют для интерполяции диаметра
углеродных нанотрубок
Метод СТМ применяют для измерения диа
метра отдельных углеродных нанотрубок
Поместив пучок нановолокон на соответст
вующую подложку, с помощью РЭМ получают
изображение этого пучка и определяют длину
нановолокон. Калибровку увеличения изобра
женийвыполняютвсоответствиис
ИСО 16700 [261
2.16СреднееасАспектное отношение - это отношение дли
ны к диаметру нановолокна. Методы измере
ний представлены в таблице В.2 (пункты 2.14 и
2.15)
По изображению поперечного среза нано
волокна, получаемого с помощью ПЭМ, опре
деляют толщину его стенок
пектное отноше
ние и распреде
лениеиаиоволо-
кон по аспектно
му отношению
2.17Средняятол-ПЭМ
шинастеноки
распределение
нановолокон по
толщинестенок,
конструкция кон
цов
2.18Симметрия
Методы определения симметрии углерод
ных нанотрубок в настоящее время находятся в
стадии разработки. Например, дтя определения
отдельных характеристик УНТ применяют ме
тоды СТМ. ДОЭ и СКР.
В ИСО/ТС 10867 [14] установлен метод оп
ределения индекса хиральности полупровод
никовых ОУНТ в образце и их относительной
интегральнойинтенсивностифотолюминес
ценции
32