ГОСТ Р 55723-2013/ISO/TS 12805:2011
Продолжение таблицы В.I
Характеристика
Метод
Краткое описание метода
Порядковый
номер
1.2
Среднийраз
мер и распреде
ление по разме
рампервичных
кристаллических
частиц
Уширение
дифракцион
ныхлиний
рентгеновских
лучей
1.3
Степень
агрега-
ции агломерации
Вычисле
ниекоэффи
циента агрега-
ции/агломерац
ИИ
Метод применяют для получения информа
ции о размере небольших кристаллических
частиц независимо от того, агломерированы
они или агрегированы в большие частицы. Из
меряют размер и деформацию отдельных кри
сталлических частиц размером до100 нм
включительно методом уширепия дебаевских
линий. К уширению дебаевских линий приво
дит напряжение в материале и изменение раз
мера кристаллической частицы. Измерения
выполняют в соответствии с ЕН 13925-1 |20| -
ЕН 13925-3 [221
Измеряют средний размер кристалла
d
ме
тодом уширения дифракционных линий рент
геновских лучей (см. 1.2 данной таблицы) и
средний размер частиц
D
одним из методов,
предложенных в 1.1 данной таблицы. Коэффи
циент агломерации или агрегации
Т
вычисляют
по формуле
т- г
Размер наночастиц можно определять мето
дом дифференциальной электрической под
вижности аэрозольных частиц (первичных час
тиц и агрегатов/агломератов) или с помощью
просвечивающей электронной микроскопии.
П р и м е ч а н и е - Метод уширения дифракци
онных линий рентгеновских лучей применим толь
ко ккристаллическим материалам
1.4Площадьпо
верхности и
удельная пло
щадьповерхно
сти
Метод БЭТМетод, основанный на модели, предложен
ной Брунауэром, Эмметом и Тейлором, позво
ляет определять площадь поверхности порош
ков объемом адсорбированного газа. Для этого
используют азот или углекислый газ. Для не
большой площади поверхности материалов
следует использовать криптон или аргон из-за
их чувствительности (увеличение массы на
единицу площади). Удельная площадь поверх
ности - отношение площади поверхности к
массе. Измерения выполняют в соответствии с
ИСО 9277 [131 и ИСО 18757 [31]
17