ГОСТ Р МЭК 61508-7—2012
ваться синхросигналами, которые не содержат комбинационной логики. Устройства, задающие сигналы УСТАНОВКА
и СБРОС, должны синхронизироваться с помощью двух триггеров.
Е.10 Синхронизация основных входов и управление метастабильностью
Цель. Предотвращение неоднозначного поведения схемы в результате нарушения времен установки и про
межуточного хранения.
Описание. Входные сигналы от внешних периферийных устройств являются обычно асинхронными и могут
произвольно изменять свое состояние. Непосредственная обработка таких сигналов выполняется синхронными
элементами последовательностных схем ASIC/FPGA. Например, использование триггеров ведет к нарушению
времени установки и промежуточного хранения, что приводит к непредсказуемым нарушениям в синхронизации и
функциональном поведении ASIC/FPGA. Это может привести к метастабипьности элемента памяти. Поэтому,
чтобы избежать функциональной неоднозначности, кахщый асинхронный входной сигнал должен синхронизиро
ваться системой синхронизации ASIC. Рекомендуются следующие меры:
- входные сигналы должны синхронизироваться двумя последовательными элементами памяти (триггера
ми) или некоторой эквивалентной схемой, чтобы достигнуть предсказуемого функционального поведения;
- каждый асинхронный входной сигнал должен обязательно синхронизироваться способом, определенным
выше, то есть каждый асинхронный сигнал соединяется только с одной такой схемой синхронизации. В случае не
обходимости выход схемы синхронизации гложет использоваться для множественного доступа;
- такая схема синхронизации должна использоваться для проверки устойчивости сигналов параллельной
шины и управлять согласованностью данных в точке выборки.
Е.11. Проектирование тестируемости
П р и м е ч а н и е — См. также Е.31 «Реализация тестовых структур»
Цель. Предотвращение нетестируемых или плохо тестируемых структур, чтобы обеспечить высокий уровень
тестового охвата при заводских испытаниях или тестирования в режиме онлайн.
Описание. Проектом по тестированию необходимо управлять в целях предотвращения:
- асинхронных структур:
- защелок и сигналов с тремя состояниями на микросхеме:
- монтажного И/монтажного ИЛИ и избыточной логики.
Комбинационная глубина подсхем играет важную роль в процессе тестирования. Тестовый пример, необхо
димый для полного тестирования, экспоненциально возрастает с глубиной комбинационной схемы. Поэтому схемы с
высокой комбинационной глубиной довольно плохо тестируются существующими средствами.
Подход, ориентируемый на проектирование тестируемости, гарантирует, что требуемый тестовый охват до
стигнут. Поскольку фактический тестовый охват может быть определен на очень поздней стадии процесса проек
тирования. недостаточное внимание проблемам «проектирования тестируемости» может существенно уменьшить
достижимый тестовый охват, приводя к дополнительному объему работ.
П р и м е ч а н и е — Тестовый охват обычно определяется процентом обнаруженных константных отказов.
Е.12 Разбиение на модули
П р и м е ч а н и е — См. также С.2.8 «Ограничение доступа/инкапсуляция информации». С.2.9 «Модульный
подход» и Е.З «Структурное описание».
Цель. Описание модулей, реализующих функции схемы.
Описание. Строгое разделение полной функциональности по различным модулям с ограниченными функци
ями. Таким способом устанавливается прозрачность модулей с точно определенным интерфейсом. Каждая подси
стема на всех уровнях проекта явно определена и ограничена по размеру (только несколько функций). Интерфей сы
между подсистемами сохранены настолько простыми, насколько это возможно, и пересечение модулей (то есть
совместно используемыеданные, обмен информацией) минимизировано. Также ограничена сложность отдельных
подсистем.
Е.13 Охват сценариями верификации (испытательные стенды)
Цель. Количественная и качественная оценка применяемых сценариев верификации в процессе функцио
нального тестирования.
Описание. Качество сценариев верификации определяется в процессе функционального тестирования,
то есть применяемый тестовый набор для верификации конкретной функции, включая все особые случаи, если
они существуют, должен быть качественно и/или количественно документально оформлен. При количественном
подходе должны быть документально оформлены достигнутый тестовый охват и глубина примененных функцио
нальных тестов. Получающийся охват должен удовлетворять уровням, установленным для каждой из метрик ох
вата. Любое исключение должно быть документально оформлено. В случав качественного подхода должно быть
оценено число проверенных строк кода, инструкций или путей («Охват кода») проверяемого кода схемы.
76