ГОСТ Р МЭК 61508-7—2012
h) Scaling and Technology Issues for Soft Error Rates. A Johnston. 4th Annual Research Conference on Reliability
Stanford University, October 2000;
i) International Technology Roadmap for Semiconductors (ITRS). several papers.
A.5.1 Тесты «шахматная доска» или «марш» дпя памяти с произвольным доступом
П р и м е ч а н и е — Ссылка на данный метод/средство приведена в МЭК 61508-2 (см. приложение А.
таблицаА.6).
Цель. Обнаружение преимущественно статических битовых ошибок.
Описание. Расположенная в шахматном порядке битовая комбинация нулей и единиц записывается в ячейки
памяти с битовой организацией. Затем эти ячейки анализируются попарно с тем. чтобы убедиться в их одинако
вости и правильности. Адрес первой ячейки такой пары является переменным, а адрес второй ячейки этой пары
образуется путем битового инвертирования первого адреса. При первом прохождении диапазон адресов памяти
проходят в направлении более высоких адресов переменных адресов, а при втором прохождении — в направ
лении более низких адресов. После этого оба прохождения повторяются с заранее заданным инвертированием.
При обнаружении какого-либо различия выдается сообщение об отказе.
При «маршевом» тестировании памяти с произвольным доступом ячейки памяти с битовой организацией
инициализируются унифицированным потоком битов. При первом прохождении ячейки анализируются в нисходя
щей последовательности; проверяется правильность содержимого каждой ячейки и ее содержимое инвертирует ся.
Основа, созданная в первом прохождении, рассматривается при втором прохождении в убывающем порядке и так
же обрабатывается. Первые прохождения повторяются с инвертируемыми предварительными значениями в
третьем и четвертом прохождениях. При обнаружении различий выдается сообщение об отказе.
А.5.2 Тест «блуждающая траектория» для памяти с произвольным доступом
П р и м е ч а н и е — Ссылка на данный метод/средство приведена в МЭК 61508-2 (см. приложение А,
таблица А.6).
Цель. Обнаружение статических и динамических ошибочных битов и перекрестных помех между ячейками
памяти.
Описание. Тестируемая область памяти инициализируется унифицированным потоком битов. Затем первая
ячейка инвертируется, и остальная часть памяти анализируется на правильность. После этого первая ячейка по
вторно инвертируется для возврата в исходное значение, и вся процедура повторяется для следующей ячейки.
Второе прохождение «модели блуждающего бита» осуществляется при инверсии всех первоначально назначен
ных значений памяти. При обнаружении различий выдается сообщение об ошибке.
А.5.3 Тест «GALPAT» или «Прозрачный GALPAT» для памяти с произвольным доступом
П р и м е ч а н и е — Ссылка на данный метод/средство приведена в МЭК 61508-2 (см. приложение А,
таблицаА.6).
Цель. Обнаружение статических битовых отказов и большой части динамических связей.
Описание. При тестировании памяти с произвольным доступом «попарной записью-считыванием» выбран
ная область памяти сначала инициализируется унифицированно (то есть все 0 или все 1). После этого первая
ячейка памяти тестируется и затем инвертируется, и все остальные ячейки анализируются на правильность
содер жимого. После каждого доступа по чтению к одной из оставшихся ячеек инвертированная ячейка также
проверяет ся. Эта процедура повторяетсядпя каждой ячейки в выбранной области памяти. Второе прохождение
выполняется противоположно первому. Любые различия приводят к выдаче сообщения об ошибке.
Тестирование «прозрачной попарной записью-считыванием» представляет собой вариацию описанной
выше процедуры: вместо инициализации всех ячеек в выбранной области памяти существующее содержимое
остается неизменным, а для сравнения содержимого набора ячеек используются контрольные суммы
(сигнату ры). Выбирается первая тестируемая ячейка области памяти и вычисляется и сохраняется сигнатура
S1 всех оставшихся ячеек области. Затем тестируемые ячейки инвертируются, и повторно вычисляется
сигнатура S2. (После каждого доступа по чтению к одной из оставшихся ячеек инвертируемая ячейка также
проверяется.) Сигнатура S2 сравнивается с сигнатурой S1 и при любом различии выдается сообщение об
ошибке. Тестируе мая ячейка повторно инвертируется для повторного установления исходного содержимого и
сигнатура S3 всех оставшихся ячеек повторно вычисляется и сравнивается с сигнатурой S1. Любые различия
приводят к выдаче сообщения об ошибке. Все ячейки памяти в выбранной области тестируются тем же
способом.
А.5.4 Тест «Абраам» для памяти с произвольным доступом
П р и м е ч а н и е — Ссылка на данный метод/средство приведена в МЭК 61508-2 (см. приложение А,
таблицаА.6).
Цель. Обнаружение всех постоянных отказов и отказов в соединениях между ячейками памяти.
Описание. Диагностический охват выше, чем при тесте «попарная запись-считывание». Число операций, не
обходимых для выполнения всего тестирования памяти, составляет примерно 30 л. где п — число ячеек памяти.
Тестирование может быть «прозрачным» при выполнении запоминания и тестирования в различных временных
сегментах в периоде рабочего цикла.
9