ГОСТР ИСО 230-1— 2010
Другой особенностью этого метода измерения прямолинейности в горизонтальной плоскости являет
ся то, что он позволяет измерять отклонения прямолинейности как базовой поверхности поверочной
линейки, так и контролируемой поверхности.
С этой целью применяется так называемый метод инверсии. Он состоит в следующем после прове
дения. как это описано выше, первого измерения при помощи этого же измерительного прибора выполня ют
второе измерение, перевернув поверочную линейку на 180° вокруг ее продольной оси. Стойку измери
тельного прибора так же как и при первом измерении следует перемещать по контролируемой поверхно
сти. при этом мерительный наконечник измерительного прибора должен касаться базовой плоскости пове
рочной линейки - цикл измерения повторяется (см. рисунок 13).
Обе полученные в результате измерений кривые отклонений £, и Е2, изображенные на рисунке 14.
являются результатом измерения отклонения от прямолинейности контролируемой поверхности, в кото
рые отклонения от прямолинейности рабочей поверхности поверочной линейки входят с разными знаками.
1 - результаты первого измерения £ . (кривая £,);
2 — среднеарифметическое точек £ , и £ 2, (кривая U):
3 — результаты второго измерения Ег (кривая Е3);
4 — отклонение от прямолинейности контролируем
мой поверхности 5 - - отклонение от прямолиисй
ности поверочной линейки
Рисунок 14
Кривая М. каждая точка которой соответствует среднеарифметическому точек кривых Е, и Е2,пред
ставляет отклонение от прямолинейности рабочей поверхности поверочной линейки. Расстояние кривой
Е, от кривой М (ME,) или равное ему расстояние кривой Е2от кривой М (МЕ2) в каждой контролируемой
точке является результатом измерения отклонения от прямолинейности проверяемой поверхности.
5.212.12 Методе использованием натянутой струны и микроскопа
Стальную струну диаметром около 0.1 мм следует натягиватьтаким образом, чтобы она была парал
лельна проверяемой линии (см. рисунок 15). Например, для линии, расположенной в горизонтальной плос
кости, вертикально расположенный микроскоп, снабженный микрометрическим устройством для измере
ния горизонтального смещения, определит отклонение линии относительно струны в горизонтальной плос
кости измерения ХУ (см. также А.9).
Натянутая струна F ипроверяемая линия должны находиться в одной и той же плоскости, перпенди
кулярной к контролируемой поверхности, в которой лежит линия MN.
При перемещении вдоль контролируемой поверхности две опоры микроскопа, лежащие на прямой,
вдоль которой будет проверяться прямолинейность, следует прижимать к контролируемой поверхности.
При этом одна из этих точек — точка Р должна совпадать с оптической осью микроскопа (см. рисунок 15).
АА
Рисунок 15
11