ГОСТ Р 52324—2005
Т а б л и ц а 55 — Косвенное измерение с зеркальными источниками света, шаг 2
Яркость
Саля каждою п)
CL-1S CL-2SCL-3SCL-4SCL-SSCL-6S ОсвещенОбъект
ность
Фокус*1
7л»кnsE_EXT(m
darkHS
S-EXT
Уал*.LS-FEXT(ni
darkLS
S-EXT
У ал*HSFSMI//V
darkHS
S-SML
-
Ущл.
lsf
_
smlw
darkLS
S-SML
а) Фокусировка при этих двенадцати измерениях преднамеренно необычна (на выходном отверстии
источника света в условиях темной комнаты).
П р и м е ч а н и е — Тщательно закрывают источник света и сохраняют все регулировки идентичными
предыдущим измерениям. Измеряют яркость излучения плоской панели с фокусом на источнике света в усло
виях темной комнаты. Эти значения необходимы для вычисления зеркально отраженного компонента без
захватывания излучаемого света от плоской панели.
Если расстояние между испытуемым оборудованием и малым источником идентично расстоянию между
испытуемым оборудованием и протяженным источником, то строка 1равна строке 3 и строка 2 равна строке 4.
Т а б л и ц а 56 — Косвенное измерение с зеркальными источниками света, шаг 3. вычисление
Яркость
(для каждою n)
CL-JSCL-2SCL-3SCL-4SCL-SSCL-6S ОсвещенностьОбъект
У$ЕХТHS-OFFfn)
S-EXTHS
У&ЕХТ.LSCFFirt
S-EXTLS
УS-SIA.HSOFEfn)
S-SMLHS
У S-SMLLS-OFFt/X)
S-SMLLS
П р и м е ч а н и е — Окончательное вьчисление — это оценка отраженного зеркального света с исполь-
зованием уравнений (63).
^S -E X T H S -O F F (C L-aS )~ ^ S EXT. H S -F _E X T (C L-nS )~
ХзаЛ.HS
EXT(C t-t>SI’ П = ^
—6 .
’/’s-E X r.L S -O F F iO .-f> S )~ У S-EXT. LS -F E X T (C L-nS I ~L S -F E X T (C l.-n S )’ П =
^ —6 ,
Y
s
-SML. H S-O FF(C L-nS) ~ У S-SUL HS-F SML(CL-f>S) ~ Y<Jark, H S -F5M L<C L-f>S )’
Я= 1...6 .(63)
^"s-SML,
LS-OFFICL-f>S) ~ У S-SML, L S -F S M L(C L-nS ) ~ Y a tfK LS-E_SUL(CL-*S>< П ~ ^
—®■
Т а б л и ц а 57 — Косвенное измерение с диффузными источниками света, шаг 1, измерение
Яркость
(аля каждого п)
CL-1S CL-2SCL-3SCL-4SCL-SSCL-6S ОсвещенОбъектФокус*1
ность
У/XFF.HSfnf
DIFFHSHS
УCiFF.LS<n)
DIFFLSLS
а) Фокус на поверхности испытуемой плоской панели.
П р и м е ч а н и я
1Измеряют незеркально отраженную яркость под углом 15" при включенной плоской панели при уровнях
HS или LS.
2 Для уменьшения числа измерений принимают, что L(CL.n>= k,= к2LiU.n) так, что к, и к2остаются
постоянными для всех азимутальных углов и углов наклона (для всех значений л). Если это допущение невоз
можно при новой технологии, то уравнения будут несправедливы и 12 гониометрических измерений плоской
панели в этой таблице должны быть повторены также для мест HL-1... 6 и LL-1 ... 6 (36 измерений вместо 12).
1&-7ВЗ69