ГОСТ Р 52324—2005
Необходимы следующиеданные об образцахдиффузной и зеркальной поверхности (У используют
для обозначения яркости в промежуточных результатах).
Яркомер фокусируют по таблицам 49—51.Для измерения зеркального отражения с малым источни
ком разрешение механизма углового смещения источника света и яркомера должно быть менее 0.2е,
чтобы было возможноопределить пиковое значение отраженной яркости.
8.7.17.2 Измерения
8.7.17.2.1 Источники света
8.7.17.2.1.1 Альтернатива 1(без использования эталона поверхности зеркального отражения)
Т а б л и ц а 49 — Измерение источников света
Яркость
L9
ОсвещенностьОбъект
Фокус
^SGa.S-EXr(ig)
S-EXTS-EXT
S-EX7°’
S-SMLS-SML
S-SMLV
а>Фокус на выходе источника света.
ь’>Фокус на выходе источника света.
П р и м е ч а н и я
1 Измеряют яркость источников света.
2 Наибольшая точность достигается при выборе расстояния измерения (от яркомера до источника све
та). равного полному расстоянию при измерениях зеркального отражения от плоской панели (сумма расстоя
ний от ярко,лера до плоской панели и от плоской панели до источника света).
8.7.17.2.1.2 Альтернатива 2 (с использованием эталона поверхности зеркального отражения)
Т а б л и ц а 50 — Измерение эталонов отражающих поверхностей
ЯркостьCL0SОсвещенностьОбъектФокус"*
*S^X7.bSTD|CL-a5y
S-EXTsSTDS-EXT
^SML.sSTD.’a.-OSI
S-SMLsSTDS-SML
а)Фокус на выходе источника света.
П р и м е ч а н и е — Измеряют значения, необходимые для вычисления яркостей источников света.
v^SSfJL.sSrCHCL-OSl
’ S-SML,S-SML(L0, =^STDlCL4 S) ■
wyS-EXT.sSTO(CL.OS)
» м х т.*« га д * Ps.EXT.STCCL.OS, ’
(62)
Т а б ли ц а 51 — Расчет источников света
Яркость
>-9
ОсвещенностьОбъект
у
S~EX7,S£X7(l4)
S-EXTS-EXT
V
S^ULS-SVL\lg)
S-SMLS-EXT
П р и м е ч а н и я
1 Измеряют яркость источников света.
2 Наибольшая точность достигается при выборе расстояния измерения (от яркомера до источника све
та). равного полному расстоянию при измерениях зеркального отражения от плоской панели (сумма расстоя
ний от яркомера до плоской панели и от плоской панели до источника света).
67