ГОСТ Р 52324—2005
Т а б л и ц а 24 — Измерение источника света (спектральное)
YS-ЗШ. -wtwi(ИйР4для им. равны
Оспещениость
О бъектФ окус*’
400410...700S-SMLS-SMLS-SML
а! Фокус на эталоне поверхности с диффузным отражением.
’s swi dSTD(dsro-/iSJ5i (г2+*2)_ _
^s-sia.rfsroirfsro-nsfs)
—
-
j—------------------------------------, П = О...7;
Я Г ’S -S M i..S .S M L(Lp |C O S0<»STO
SM t.dSn>(<rSTD-nS30)
l ’ 2 + Z * )
4
- ---
7
y S-SM L.rfSTO («fSrD-f>S45) ( r2 + z 2 >Л ,
QsSML.dS7D(dSTD-nS45) ~u,,.0 = 0.../;
* r TS-S,W L.S-S//i(L9)c o s ” rfSTO
/чулXS SML.<SSTD{(SSTD-4S4S)+ ^ )
Qs-SUL.dS7D(dSTD-4S30)\’’l ~ 2 v__„
ХЛ • *S-S«L,S-S.W f.(t0)CO bH ;rSrD
, _ v
Zs-SI/L
0S70<<JS7D-4S<5) ( ^ + 2 2 )
9 s .S A «.,tfS rD < d S 7 D -4 S 3 0 )(Z ) = 2
7
Т•Г ^ * S -S M t,S S.W M tp|CO SO rfSrD
Л
S-SUL dSTD (dSTD-
nS30)
_
--
y S-
—---------------------------
--------
’ " -
л
7
(27)
n f ’S-SML, S-SML (i-9)®rfSTO
(28)
9s. SMl.esTO«»SrD.4S45) (>-)
TSSML.dS7DtdSTD-4S4S)
, X-400, 410,...,700,
nf2 YSSUi S-SMi<L9>(^)(^) COS0dSrO
(29)
где r— радиус выходного отверстия источника света;
г — расстояние междуэталоном отражающей поверхности и выходным отверстием источника света;
0L?— угол наклона между источником света и эталоном отражающей поверхности (15®, 30°, 45°).
См. [133].
Вычисляют коэффициенты яркости, см. таблицу 25.
Т а б л и ц а 25 — Коэффициенты яркости для эталона поверхности с диффузным отражением
Коэффициент яркости
(дпя каждого п)
0
1
23
45
в
7
Освещен
ность
Объект
Ф окус10
9
ssm l
.
asTO«tsm^s)S)
S-SMLdSTDdSTD
9
s
SML.
dS7DfdSTZLf)SX/t
S-SMLdSTDdSTD
9 s s it.
dSTQ((tSnXoS4S}
S-SMLdSTDdSTD
dS-SMLOSW(tlSTl>t>S4Sl00
Не требуется
Не требуется
S-SMLdSTDdSTD
Q
ssul
crsmfosm-nsfs)W
Не требуется
Не требуется
S-SMLdSTDdSTD
a>Фокус на эталоне поверхности с диффузным отражением.
42