ГОСТ Р 52324—2005
Т а б л и ц а 28 — Калибровка эталона зеркального коэффициента отражения
Яркость
CL-0S
(для
каждого
п)
CL-1SCL-2SCL-3SCL-4SCL-SSC L-
6
SОсвещен*
КОСТЬ
ОбъектФ окус10
^SEXT sSTD(n)
S-EXTsSTDS-EXT
У&5Иl. iSTDrnJ
S-SMLsSTDS-SML
а’ Фокус на эталоне поверхности с диффузным отражением.
П р и м е ч а н и я
1 Для хорошей измерительной системы и эталона зеркального отражения Y(S.SUL asт,ъ> сохраняется
постоянным для всех значений п, поэтому необходимо измерение только для одного азимутального угла,
например CL-0S.
2 Если эталон поверхности с зеркальным отражением не имеет компоненты дымки, то YS.EXT
sstd
<п>-=
Y
s
.S
u l
.
is то
(пу
и число измерений может быть уменьшено в два раза.
Измеряют яркость Lgисточников света, см. таблицу 29.
Т а б л и ц а 29 — Измерение источников света
Яркость
Освещенность
О бъект
Фокус41
^S-eXT. S-EXT(Lg)
S-EXTS-EXT
S-EXT
^S SVL S-SIALtlgi
S-SMLS-SML
S-SML
a’ Фокус — на выходном отверстии источника света.
П р и м е ч а н и е — Наибольшая точность достигается, когда расстояние измерения (от измерителя
яркости до источника света) является таким же. как полное расстояние при измерениях зеркального отраже
ния плоской панели (сумма расстояний от измерителя яркости до плоской панели и от плоской панели до
источника света).
’S -ЕХГ, sSrOfCL-nSl
TS £X r.iS rO |C t-/lS )
, n a 0...6,
’s-EXT S-EX7(Lg)
(3 1 )
^ SMt.lSrOICt.nS)
U . O
*S-
p
S-SVi, bSTO|Ci.-nS)
a —
-
------------------------------------.
n
=•
л
..
л
SML.S-S M L (L g )
Вычисляют коэффициенты яркости, см. таблицу 30.
Т а б л и ц а 30 — Вычисление коэффициента яркости эталона поверхности зеркального отражения
Коэффициент яркости
(для каждого п)
CL-OS CL-1SCL-2SCL-3SCL-4SCL-SSCL-
6
SО свещ ен
ность
Объект
PsEXT iSTDfOT
S-EXTsSTD
Ps-SAft, sSTDfU»
S-SMLsSTD
П р и м е ч а н и я
1 Эталон поверхности зеркального отражения не нужен, если яркость зеркальных источников света может
быть измерена непосредственно.
2 Эту калибровку проводят в испытательной или в поверочной лаборатории. Результаты калибровки в испы
тательной лаборатории могут быть несколько лучшими, поскольку такая калибровка включает в себя все аспекты
оптических измерений и группировку испытательной системы.
44