ГОСТ РИСО 16242—2016
Библиография
[1
ISO.TR 15969
[
21
ISO 18116
13]
ISO 18117
И1
ISOTR 18394
15]
ISO 20903
Surface chemical analyse — Depth profiling — Measurement of sputtered depth
Surface chemical analysis — Guidelines for preparation and mounting of specimens for analysis
Surface chemical analysis — Handling of specimens prior to analysis
Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy — Derivation of chemical information
Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectrosco
py — Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results
[6]
Fairley N.. and Carrick A.. The CASA Cookbook — Part 1: Recipes for XPS Data Rooessing. Acolyte Science. Knuts-
ford. UK. 2005. p. 313. ISBN 9780954953300
УДК 543.428.2:006.354OKC 71.040.40
Ключевые слова: химический анализ поверхности, Оже-электронная спектроскопия, представление
данных
Редактор Е С. С
к
ворцова
Корректор Г.В.
Я
к
овлева
Компьютерная верстка Ю.В. Поповой
Сдано в набор 05.09 2016.Подписано в печать 22.09.2016Формат 60 * 841/а.Гарнитура Ариал.
Усп. печ л. 1.86.
Набрано в ИД
«Юриспруденция». 115419, Москва, ул. Орджоникидзе 11.
www.junsizdat.ru
y-book@mail.ru
Издано во ФГУП
«СТАНДАРТИНФОРМк. 123995 Москва, Гранатный пер , 4.
www.gostinfo.ru
info@gostinfo.ru
ГОСТ Р ИСО 16242-
2016