ГОСТ Р 8.623— 2015
Приложение В
(обязательное)
Подготовка образцов для измерений
В.1 Для измерений методом объемного резонатора при фиксированной резонансной частоте, методом при
фиксированной длине резонатора и методом объемного резонатора в закритическом режиме измеряемый
образец выполняют в форме диска.
Для резонаторов, применяемых в диапазоне частот от 8 до 12 ГГц. геометрические размеры, требования к
форме и шероховатости поверхностей образцов следующие:
- диаметр образца, мм49,9^ й
- отклонения от параллельности и плоскостности торцевых поверхностей образца по ГОСТ 24643. мм. не
более..0,02;
- отклонение от перпендикулярности оси боковой поверхности образца к торцевым поверхностям по ГОСТ
24643. мм. не более.0.02;
- шероховатость торцевых поверхностей образца по ГОСТ 2789. параметр
R
a , мкм. не более..0,2.
В.2 Для метода объемного резонатора при фиксированной резонансной частоте предпочтительны образцы
полуволновой и кратной ей толщины. Толщину образца
I
вычисляют по формуле
q
=1.2,3 — число полуволн на толщине образца (при полуволновой толщине
q
=1);
(В.1)
Л
=
c j
/ 0 — длина волны в свободном пространстве на частоте измерений, мм:
£
- приближенное значение диэлектрической проницаемости образца;
а
- радиус резонатора, мм.
Толщину дискового образца измеряют в девяти точках, указанных на рисунке В.1 со стандартной
неопределенностью не бопве 0.005 мм. оцениваемой по типу В в соответствии с ГОСТ Р 54500.3. За толщину
образца принимают среднее арифметическое.
I
Рисунок В.1 - Расположение точек для определения толщины дискового образца
Для резонаторов, применяемых в других диапазонах частот {см.приложение Б), требования к форме и
шероховатости поверхностей образцов, а также по измерению их толщины соответствуют приведенным в В.1 и
В.2.
В.З Для измерений методом щелевого резонатора образец выполняют в форме тонкого диска, пластины
или используют диэлектрические подложки.
В зависимости от частоты измерения и соответствующих размеров резонатора (см. приложение Б)
изготовляют образцы, площадь которых перекрывает резонансную полость.
Требования к форме и шероховатости образцов в форме дисков, а также по измерению их толщины
соответствуют приведенным в В.1 и В.2.
Шероховатость и непараллельноеть поверхностей подложек должны соответствовать требованиям
нормативно-технических документов на подложки.
Требования к форме и шероховатости поверхностей образцов в форме пластин аналогичны.
Толщину образца в форме пластины (подложки) измеряют в круговой контролируемой области в
соответствии с рисунком В.1 со стандартной неопределенностью не более 0.005 мм. оцениваемой по типу В в
соответствии с ГОСТ Р 54500.3. За толщину образца принимают среднее арифметическое.
В.4 Для измерений методом МДР образец выполняют в форме цилиндра диаметром
D
. мм и высотой
L
.
мм исходя из соотношений
26