ГОСТ Р ИСО 9241-305-2012
Рисунок 37 — Альтернативное расположение девяти течек измерения (VESA)
5.5 Светоизмерительное устройство (СИУ)
Достоверность того, что измерения на самом деле отражают значениеизмеряемой величины, опре
деляется многими факторами. Полное описание всех факторов, которые могут повлиять на неопределен
ность измерения, можно найти в «Руководстве по выражению неопределенности измерений» (GUM) [6].
Обсуждение преобразования ошибок и оценки неопределенности приведено в VESA-2005-5 [10] раздел
А108. для терминологии — в разделеА221. Любые числовые значения неопределенности выражаются с
использованием расширенной неопределенности с коэффициентом охвата к = 2 (двойное среднеквадра
тическое отклонение или оценка, равная удвоенному среднеквадратическому отклонению).
Относительная расширенная неопределенность измерения яркости с коэффициентом охвата к = 2
должна составлять исиу= ± 5 % от яркости или меньше. Сходимость результатов измерения яркости
должна быть меньше максимума рсиу = ± 5 % яркости или неопределенности, обусловленной дискре
тизацией (в зависимости от того, какое значение больше) за пятиминутный интервал.
Для цвета расширенная неопределенность измерения координат цветности с коэффициентом ох
вата к = 2 вольфрамового осветительного прибора МКО типа А свыше 10 кд/м2должна составлять по
крайней мере ± 0.002.
Для устройств, в которых используются матричные фотодетекторы для обеспечения измерений
яркости с пространственным разрешением, в дополнение к вышеописанным требованиям также не
обходимо, чтобы такая система обеспечивала за счет аппаратных средств или программного обеспе
чения неоднородность не более ± 2 % (1 — мин/макс) для всех элементов обнаружения, используемых
для измерения яркости. Если такие СИУ используются для различения мелких деталей на пиксельном
уровне, то матричный пиксель должен измерять не более 1/10 размера наименьшего по горизонтали и
вертикали расстояния между субпикселями изображения на дисплее. Например, размер соответству
ющего элемента должен формироваться по крайней мере десятью детекторными пикселями в гори
зонтальном или вертикальном направлении. Матрица должна быть профильтрована, чтобы она стала
фотопической (вне зависимости от того, когда проводились измерения). Для определения относитель
ной спектральной характеристики чувствительности по кривой видности для дневного зрения человека
ЦА) должен использоваться такой критерий МКО. чтобы f[ < 5% (см. [9]).
Внешнее освещение должно регулироваться во избежание погрешностей, обусловленных отра
жениями от экрана дисплея при прямом (от контрольно-измерительной аппаратуры, из-за освещения
помещения, наличия окон и других источников) и косвенном (от стен, столов, одежды персонала ла
боратории и других поверхностей) падении света. Дополнительная погрешность может быть вызва на
бликами в объективе или вуалирующей блескостью остального экрана. Для экранов с характерной
сильной зависимостью от угла наблюдения влияние бликов/блескости может быть особенно значитель
ным. Измерения систем дисплеев с фронтальной проекцией также могут иметь искажения вследствие
рассеянного света от внешнего освещения и обратных отражений от поверхностей помещения. Для
уменьшения воздействия должны применяться технологии устранения рассеянного света; для рассмо
трения возможных решений см. [13]. [14], [15] и [16] и VESA-2005-5 [10] раздел А101.
23