ГОСТ Р МЭК 61646—2013
c) конструкция для поддержки испытуемого модуля и эталонного фотоэлектрического устройст
ва в плоскости, перпендикулярной к лучам от источника света;
d) оборудование для измерения вольт-амперной характеристики в соответствии с разделом 4
МЭК 60904-1;
e) оборудование для изменения температуры испытуемого модуля до НРТ, измеренной в 10.5.
10.6.3 Метод
10.6.3.1 Стандартные условия испытаний (СУИ)
Поддерживают температуру модуля 25 °С и снимают его вольт-амперную характеристику при
освещенности 1000 Вт м 2(измеренной эталонным фотоэлектрическим устройством) в соответствии с
МЭК 60904-1 с использованием естественного солнечного света или его имитатора класса ВВА или
выше в соответствии с требованиями МЭК 60904-9.
10.6.3.2 Номинальная рабочая температура (НРТ) модуля
Равномерно нагрев модуль до НРТ. снимают его вольт-амперную характеристику при освещен
ности 800 Втм’2 (измеренной эталонным фотоэлектрическим устройством) в соответствии с МЭК
60904-1 с использованием естественного солнечного света или его имитатора класса ВВА или выше в
соответствии с требованиями МЭК 60904-9.
Если спектр эталонного фотоэлектрического устройства не совпадает со спектром испытуемого,
используют МЭК 60904-7 для вычисления поправки спектрального несоответствия.
10.7 Характеристики модуля при низкой освещенности
10.7.1 Цель
Целью данного испытания является определение изменений электрических характеристик мо
дуля. подключенного к нагрузке при температуре 25 °С и при освещенности 200 Вт м’2 (измеренной
эталонным фотоэлектрическим устройством) в соответствии с МЭК 60904-1 с использованием есте
ственного солнечного света или его имитатора класса ВВВ или выше в соответствии с требованиями
МЭК 60904-9.
10.7.2 Оборудование
Требуется следующее оборудование:
a) источник света (естественный солнечный свет или его имитатор класса ВВВ или выше в со
ответствии с МЭК 60904-9);
b
) оборудование, необходимое для изменения освещенности до 200 Вт м’2 без влияния на от
носительное спектральное распределение солнечной освещенности и пространственную однород
ность в соответствии с МЭК 60904-10;
c) эталонное фотоэлектрическое устройство в соответствии с МЭК 60904-2;
d) конструкция для поддержки испытуемого модуля и эталонного фотоэлектрического устройст
ва в плоскости, перпендикулярной к лучам от источника излучения;
e) техническое оборудование для измерения вольт-амперной характеристики в соответствии с
МЭК 60904-1.
10.7.3 Метод
Определяют вольт-амперную характеристику модуля при температуре (25
±
2) °С и освещенно
сти 200 Вт м’2 (по измерениям эталонного фотоэлектрического устройства) в соответствии с МЭК
60904-1, с использованием естественного солнечного света или его имитатора класса ВВВ или выше
в соответствии с МЭК 60904-9. Освещенность должна быть уменьшена до определенного уровня с
помощью нейтральных фильтров или какого-либо другого способа, который не повлияет на спек
тральное распределение освещенности (см. МЭК 60904-10 относительно указаний для уменьшения
освещенности без изменения спектрального распределения солнечной освещенности).
10.8 Натурные испытания
10.8.1 Цель
Целью данного испытания является проведение предварительной оценки способности модуля
выдерживать внешние условия и выявить любые синергические разрушительные факторы, которые
могут не быть определены в ходе лабораторных испытаний.
П р и м е ч а н и е — Окончательное заключение о сроке годности модуля на основе прохождения данно
го испытания должно быть осторожным из-за короткого времени тестирования и разброса условий воздействия
внешних факторов. Данное испытание должно быть использовано только как руководство или индикатор возник
новения возможных проблем.
15