Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 29.12.2025 по 04.01.2026
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ Р МЭК 61646-2013; Страница 12

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ Р МЭК 61194-2013 Системы фотоэлектрические автономные. Эксплуатационные характеристики (Настоящий стандарт распространяется на автономные фотоэлектрические системы и устанавливает основные электрические, механические и экологические характеристики систем для описания и анализа при их эксплуатации) ГОСТ Р МЭК 61683-2013 Системы фотоэлектрические. Источники стабилизированного питания. Методы определения эффективности (Настоящий стандарт представляет собой общее руководство по определению эффективности источников стабилизированного питания, используемые в автономных и работающих совместно с электрическими сетями фотоэлектрических системах, где на выходе источника стабилизированного питания–стабильное напряжение переменного тока постоянной частоты или стабильное напряжение постоянного тока) ГОСТ Р МЭК 61724-2013 Системы фотоэлектрические. Мониторинг эксплуатационных характеристик. Методы измерения, способ передачи и обработки данных (Настоящий стандарт распространяется на фотоэлектрические системы и устанавливает требования к мониторингу их эксплуатационных характеристик, а также методы измерения, способы передачи и обработки данных)
Страница 12
Страница 1 Untitled document
ГОСТ РМЭК 616462013
держки на свету, и любые обнаруженные неисправности. Если потерю максимальной мощности реги
стрировали после каждого испытания, это также следует указать в протоколе испытаний;
I) при необходимости указание на оцененную неопределенность измерений:
т ) имя. должность и подпись или эквивалентную идентификацию лица (лиц), утвердившего про
токол испытаний, а также дату выдачи протокола испытаний;
п) при необходимости указание на то. что результаты относятся только к объектам (образцам),
прошедшим испытания;
о) заявление о том, что протокол испытаний не может быть частично воспроизведен без пись
менного разрешения лаборатории.
Копия протокола испытаний должна храниться в испытательной лаборатории и у производителя.
9 Модификации
Л
юбое изменение конструкции, материалов, компонентов или процесса производства может по
требовать повторения некоторых этапов испытания или всего испытания в полном объеме.
10 Методы испытаний
10.1 Визуальный контроль
10.1.1 Цель
Целью данного испытания является обнаружение любых видимых неисправностей модуля.
10.1.2 Метод
Тщательно осматривают каждый модуль при освещении не менее 1000 лк с целью выявить:
- сломанные, треснувшие, погнутые, неровные или изношенные внешние поверхности;
- неисправные узлы и соединения;
- полости или видимую коррозию в любом из тонкопленочных слоев активной цепи;
- видимую коррозию внешних контактов, соединений и шин;
- повреждение клееных соединений;
- пузыри или расслоение материала, простирающееся между фотоэлементом и гранями модуля:
- липкую поверхность у полимерных материалов;
- неисправные электрические выводы, открытые токоведущие части;
- любые прочие условия, которые могут повлиять на рабочие характеристики.
При обнаружении дефекта модуля подготавливают замечания и/или фотографии каждого де
фекта и его местоположения.
10.1.3 Требования
Особенности модуля, которые отличаются от основных видимых дефектов, указанных в разделе
7, не влияют на проведение дальнейших испытаний.
10.2 Определение максимальной мощности
10.2.1 Цель
Целью данного испытания является определение максимальной мощности модуля до и после
различных испытаний на воздействие внешних факторов.
При проведении данного испытания необходимо учитывать воспроизводимость результатов ис
пытания.
10.2.2 Оборудование
Требуется следующее оборудование;
a) источник света (естественный солнечный свет или его имитатор класса ВВА или выше в со
ответствии с МЭК 60904-9);
b
) эталонное фотоэлектрическое устройство в соответствии с МЭК 60904-2. При использовании
имитатора солнечного света класса ВВА эталонным фотоэлектрическим устройством должен быть
эталонный модуль такого же размера с выполненными по такой же технологии фотоэлементами для
обеспечения соответствия спектральных характеристик;
c) конструкция для поддержки испытуемого образца и эталонного фотоэлектрического устройст
ва в плоскости, перпендикулярной к лучам от источника света;
d) оборудование для измерения вольт-амперной характеристики в соответствии с МЭК 60904-1.
8