ГОСТ 8776—2010
Окончание таблицы 1
Определяемый элемент
Длина аолны аналитической линии, нм
Диапазон определяемых массовых
допей. %
Цинк
213.86
206.20
330.26
0.00005—0.003
0.0001—0.01
0.0003—0.01
Кобальт — линия сравнения 257.89Основа
278.59
278.70
297.55
205.41
213.66
291.00
291.02
204.92
366.06
423.00
Допускается использовать другие аналитические линии, если они обеспечивают определение
массовых долей элементов втребуемом диапазоне с неопределенностью, не превышающей установ
ленную настоящим стандартом.
Таблетку пробы или стандартного образца помещают на электрод-подставку. Верхний электрод
рекомендуется затачивать на усеченный конус.
Для удаления поверхностных загрязнений электроды предварительно прокаливают вдуге посто
янного тока втечение 20 с при силе тока от 6 до 10 А. включая их вкачестве анода дуги. Электроды ос.ч.
допускается не прокаливать.
Форма и размеры электродов и их расположение во время аналитической экспозиции приведены
на рисунке 1.
а — до начала экспозиции: б — прианодной полярности образца: в — при катодной полярности образца
Рисунок 1
Спектрограммы фотографируют черезтрехступенчатый ослабитель. При работе вузком интервале
определяемых массовых долей элементов фотографирование можно проводитьбез ослабителя (ФГ).
Электрод-подставкус помещенной на неготаблеткой пробы илистандартногообразца включают в
качествеанодадуги. Регистрациюспектра начинают только после перехода анодного пятна дуги нарас
плав пробы.
Переход ускоряют тем. что после несколькихсекунд горения дуги выключают ток иповторно вклю
чают его. пока расплав еще не успел остыть.
Первоначально установленный дуговой промежуток корректируют периодически в течение всей
экспозиции по увеличенному изображениюдуги на экране средней линзы осветительной системы или с
помощью специальной короткофокусной проекционной линзы. Регистрацию спектра проводят при сле-
7