ГОСТ Р 8.697—2010
Н А Ц И О Н А Л Ь Н Ы ЙС Т А Н Д А Р ТР О С С И Й С К О ЙФ Е Д Е Р А Ц И И
Государственная система обеспечения единства измерений
МЕЖПЛОСКОСТНЫЕ РАССТОЯНИЯ В КРИСТАЛЛАХ
Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа
State system for ensuring the uniformityof measurements. Interpenar spacings in crystals.
Methods for measurement by means of a transmission electron microscope
Дата введения — 2010—09—01
1 Область применения
Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстоя
ний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и иных образцах
(далее — кристаллах)толщинойне более 200 нмс помощью просвечивающего электронного микроско
па.
Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в
диапазоне линейныхразмеровот 0.08до 10.00 нм в режимедифракции и вдиапазоне линейных разме
ров от0.2 до 10.0 нм в режиме изображения.
2 Нормативные ссылки
В настоящем стандарте использованы нормативные ссылки на следующие стандарты:
ГОСТ 12.1.005—88 Система стандартов безопасности труда. Общие санитарно-гигиенические
требования к воздуху рабочей зоны
ГОСТ 12.1.045—84 Система стандартов безопасности труда. Электростатические поля. Допус
тимые уровни на рабочих местах итребования к проведению контроля
П р и м е ч а н и е — При пользовании настоящим стандартом целесообразно проверить действие ссылоч
ных стандартов в информационной системе общего пользования — на официальном сайте Федерального
агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет или по ежегодно издаваемому информа
ционному указателю «Национальные стандарты», который опубликован по состоянию на 1января текущего года, и
по соответствующим ежемесячно издаваемым информационным указателям, опубликованным в текущем году.
Если ссылочный стандарт заменен (изменен), то при пользовании настоящим стандартом следует руководство
ваться заменяющим (измененным) стандартом. Если ссылочный стандарт отменен без замены, то положение, в
котором дана ссылка на него, применяется в части, не затрагивающей эту ссылку.
3 Термины иопределения
В настоящем стандарте применены термины по РМГ29[1]. а также следующиетермины ссоответ
ствующими определениями.
3.1межплоскостное расстояние в кристалле: Минимальное расстояние между кристаллогра
фическими плоскостями в кристалле, характеризующимисяопределенным набором значений индексов
Миллера.
П р и м е ч а н и е — Индексы Миллера — набор из трех целых чисел, характеризующий пространствен
но-угловую ориентацию кристаллографических плоскостей в кристалле так. что определенный набор их значений
соответствует некоторой совокупности параллельных плоскостей а кристалле.
Издание официальное
1