ГОСТ Р 8.697—2010
(формуляре) калибровочного образца, для условий окружающей среды, установленных в раз
деле 9, нм;
т — число выбранныхпо 11.1.1дифракционныхколецнаэлектронограммекалибровочногообразца.
11.1.4Определяют среднеарифметическое значение постоянной микроскопа В, мм ■нм. по фор
муле
(
11
.
2
)
В =ii!— ,
П
где В; — f’-e значение постоянной микроскопа, вычисленное по 11.1.3 по данным /-й электронограммы.
мм • нм;
п — число повторных регистраций электронограммы от участка калибровочногообразца по 10.2.5.
11.2 Дифракционную картину, полученную при взаимодействии электронного пучка с исследуе
мым кристаллом, обрабатывают в порядке, указанном в 11.2.1—11.2.3.
11.2.1 На /-й электронограмме кристалла (/ = 1,2
.....
Г), полученной по 10.3.5, присваивают поряд
ковые номера дифракционным кольцам по мере увеличения их диаметра, начиная с наименьшего. С
помощью программного обеспечения электронно-вычислительного устройства вычисляют расстояния
2г.’к) в миллиметрах между парами центрально-симметричных наиболее ярких и контрастных рефлек
сов. принадлежащих одному издифракционных колецс номером к.
11.2.2 Вычисляют среднеарифметическое значение расстояния между рефлексами 2!r(k\ мм. по
формуле
(11.3)
2 г 1=—-------
/
где 2г1*1 — расстояние между двумя рефлексами, принадлежащими дифракционному кольцу с номе
ром к на /-йэлектронограмме, вычисленное по 11.2.1,мм;
/ — число электронограмм участка кристалла по 10.3.5.
11.2.3 Вычисляют межплоскостноерасстояниенм. междупараллельными плоскостями, фор
мирующимидифракционное кольцос номером к, поформуле
а
где В — среднеарифметическое значение постоянной микроскопа, вычисленное по 11.1.4. мм нм.
2Г<>— среднеарифметическое значение расстояния между рефлексами, принадлежащими диф
ракционному кольцу с номером к, вычисленное по 11.2.2,мм.
11.3Определение межплоскостных расстояний в кристалле по фотографическому изображению
образца проводят в порядке, указанном в 11.3.1—11.3.4.
11.3.1Закрепляютфотографическоеизображение, полученное по 10.4.4 для проведенияизмере
ний.
11.3.2 С помощьюлинейкиизмеряютг 2:5 разр-е (р= 1.2..... z)расстояниевмиллиметрахмеж
ду 11 плоскостями кристаллической решетки. Для этого проводят линию, перпендикулярную к полосам
контраста, соответствующим плоскостям кристаллической решетки сопределенным набором значений
индексов Миллера. Если изображение получено в виде точек, соответствующих полосам контраста, их
соединяютпрямыми линиями и перпендикулярно к ним проводятлинию, на которой измеряютХ(1.
11.3.3 Вычисляют межплоскостное расстояние0(1, нм. в кристалле поформуле
** 1Ш
D,= -Л-.
(11.5)
где— расстояние между 11 плоскостями кристаллической решетки кристалла, определенное
по 11.3.2, мм;
М — увеличение изображения, установленное в 10.4.2. мм •н м 1._
11.3.4Вычисляют среднеарифметическое значение межплоскостного расстояния D. нм. по фор
муле
6