Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 29.12.2025 по 04.01.2026
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ Р 8.697-2010; Страница 11

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ 31377-2008 Смеси сухие строительные штукатурные на гипсовом вяжущем. Технические условия Dry building levelling plaster mixtures based on gupsum binder. Specifications (Настоящий стандарт распространяется на сухие строительные штукатурные смеси заводского изготовления, изготовливаемые на гипсовом вяжущем с модифицирующими добавками, заполнителями и наполнителями и предназначенные для выравнивания и оштукатуривания бетонные, каменных, кирпичных, гипсовых и других поверхностей при проведении внутренних работ при строительстве, ремонте и реконструкции зданий и сооружений. Штукатурные смеси могут применяться также в качестве основания под последующее нанесение на него декоративных покрытий (декоративной штукатурки, краски). Настоящий стандарт устанавливает технические требования к смесям в сухом состоянии; смесям готовым для применения, и затвердевшим смесям) ГОСТ 28856-90 Изоляторы линейные подвесные стержневые полимерные. Общие технические условия Line suspension polymeric rod insulators. General specifications (Настоящий стандарт распространяется на линейные подвесные стержневые полимерные изоляторы, предназначенные для изоляции и крепления проводов воздушных линий электропередачи и в распределительных устройствах электростанций и подстанций переменного тока напряжением свыше 1000 В частотой от 100 Гц при температуре окружающего воздуха от минус 60 град. С до плюс 50 град. С, расположенных на высоте до 3500 м над уровнем моря, в районах с I-VII степенью загрязненности атмосферы) ГОСТ Р 53477-2009 Машины и оборудование для пищевой промышленности. Машины тестовальцовочные. Технические условия Food processing machinery. Dough and pastry brakes. Specifications (Настоящий стандарт включает в себя требования по безопасности и гигиене при конструировании и производстве вальцовочных (раскаточных) машин для простого и сдобного теста, которые используются в производстве хлеба, кондитерских изделий, сладостей, деликатесов для снижения толщины твердой массы теста путем его раскатывания. Операцию обычно проводят путем пропускания теста между вальцами, расстояние между которыми прогрессивно снижают путем ручного или автоматического регулирования. Настоящий стандарт включает в себя требования к конструкции, изготовлению, монтажу, транспортированию, безопасности и гигиене при конструировании, производстве, установке, регулировании, эксплуатации, очистке и техническом обслуживании этих машин, правила их приемки и методы контроля. Настоящий стандарт применим только для машин, произведенных после даты ввода его в действие. Настоящий стандарт не распространяется на экспериментальные и испытуемые машины, находящиеся в разработке производителя. Настоящий стандарт применяют совместно с ГОСТ Р 50620)
Страница 11
Страница 1 Untitled document
ГОСТ Р 8.697—2010
1 0 ,
0
=
р
-1
2
(
11
-
6
)
где D,, — межплоскостное расстояние в кристалле, вычисленное по 11.3.3, нм;
г число вычислений значений расстояний между 11 плоскостями в кристаллической решетке,
определенное по 11.3.2.
12 Контроль погрешности результатов измерений
12.1Среднеквадратическоеоткпонение5а ,нммм. 1-гозначенияпостоянноймикроскопа, вычис
ленное по 11.1.3 поданным /-й электронограммы,’ вычисляют поформуле
1
(
12
.
1
)
где 2г значение диаметра /’-го дифракционного кольца на /-Й электронограмме калибровочного
образца, вычисленное по 11.1.2.мм;
S**’) погрешностьизмерениямежплоскостного р а ссто я ни я 1.указаннаяв паспорте(формуляре)
калибровочногообразца при условиях окружающей среды, приведенных в разделе 9. нм;
т — число выбранных по 11.1.1 дифракционных колец на электронограмме от калибровочного
образца.
12.2Среднеквадратическое отклонение S
q
, мм нм. среднеарифметического значения постоян
ной микроскопа В, определяемоедля всех п зарегистрированных электронограмм. вычисляют по фор
муле
(
12
-
2
)
rfleSfl погрешностьиэмерения/’-гозначенияпостояниоймикроскопа.вычисленнаяпо12.1 поданным
1i-йэлектронограммы калибровочного образца, нм мм;
п число повторных регистраций электронограммы одного и того же участка калибровочного
образца, определенноепо 10.2.6.
12.3Среднеквадратическую погрешность S^L\ мм. результата измерений среднеарифметичес
кого значения расстояния 2г{к) между рефлексами на к-м кольцедифракционной картины от исследуе
мого кристалла вычисляют по формуле
Ф-
(12.3)
где 2rlk)— расстояние между двумя рефлексами, принадлежащими дифракционному кольцу с номе
ром к на /-йэлектронограмме. вычисленное по 11.2.1.мм,
2r (k> среднеарифметическое значение расстояния между рефлексами, принадлежащими диф
ракционному кольцу с номером к, вычисленное по 11.2.2.мм;
/ — число повторных регистраций электронограммы одного и того же участка калибровочного
образца, определенное по 10.3.4.
12.4Суммарную погрешность S^K нм. измерения межплоскостного расстояния между парал
лельными плоскостями, формирующимидифракционное кольцос номером к. вычисляют поформуле
S<*> =d<*>
(12.4)
гдеdW — межплоскостное расстояние междупараллельными плоскостями в кристалле, формирующи
мидифракционное кольцо с номером к, вычисленное по 11.2.3. нм;
7