Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 29.12.2025 по 04.01.2026
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ Р 8.697-2010; Страница 12

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ 31377-2008 Смеси сухие строительные штукатурные на гипсовом вяжущем. Технические условия Dry building levelling plaster mixtures based on gupsum binder. Specifications (Настоящий стандарт распространяется на сухие строительные штукатурные смеси заводского изготовления, изготовливаемые на гипсовом вяжущем с модифицирующими добавками, заполнителями и наполнителями и предназначенные для выравнивания и оштукатуривания бетонные, каменных, кирпичных, гипсовых и других поверхностей при проведении внутренних работ при строительстве, ремонте и реконструкции зданий и сооружений. Штукатурные смеси могут применяться также в качестве основания под последующее нанесение на него декоративных покрытий (декоративной штукатурки, краски). Настоящий стандарт устанавливает технические требования к смесям в сухом состоянии; смесям готовым для применения, и затвердевшим смесям) ГОСТ 28856-90 Изоляторы линейные подвесные стержневые полимерные. Общие технические условия Line suspension polymeric rod insulators. General specifications (Настоящий стандарт распространяется на линейные подвесные стержневые полимерные изоляторы, предназначенные для изоляции и крепления проводов воздушных линий электропередачи и в распределительных устройствах электростанций и подстанций переменного тока напряжением свыше 1000 В частотой от 100 Гц при температуре окружающего воздуха от минус 60 град. С до плюс 50 град. С, расположенных на высоте до 3500 м над уровнем моря, в районах с I-VII степенью загрязненности атмосферы) ГОСТ Р 53477-2009 Машины и оборудование для пищевой промышленности. Машины тестовальцовочные. Технические условия Food processing machinery. Dough and pastry brakes. Specifications (Настоящий стандарт включает в себя требования по безопасности и гигиене при конструировании и производстве вальцовочных (раскаточных) машин для простого и сдобного теста, которые используются в производстве хлеба, кондитерских изделий, сладостей, деликатесов для снижения толщины твердой массы теста путем его раскатывания. Операцию обычно проводят путем пропускания теста между вальцами, расстояние между которыми прогрессивно снижают путем ручного или автоматического регулирования. Настоящий стандарт включает в себя требования к конструкции, изготовлению, монтажу, транспортированию, безопасности и гигиене при конструировании, производстве, установке, регулировании, эксплуатации, очистке и техническом обслуживании этих машин, правила их приемки и методы контроля. Настоящий стандарт применим только для машин, произведенных после даты ввода его в действие. Настоящий стандарт не распространяется на экспериментальные и испытуемые машины, находящиеся в разработке производителя. Настоящий стандарт применяют совместно с ГОСТ Р 50620)
Страница 12
Страница 1 Untitled document
ГОСТ Р 8.697—2010
В — среднеарифметическое значение постоянной микроскопа, вычисленное по 11.1.4. мм нм;
S - суммарная погрешность измерения среднеарифметического значения постоянной микроскопа,
вычисленная по 12.2. мм нм;
2г{к) среднеарифметическое значение расстояния между рефлексами, принадлежащими дифрак
ционномукольцу с номером к. вычисленное по 11.2.2, мм;
s p среднеквадратическая погрешность результата измерений среднеарифметического значения
расстояния 2г>между рефлексами на А-м кольце дифракционной картины от исследуемого
кристалла, вычисленная по 12.3, мм.
12.5 Доверительную границу суммарной погрешности Acfk\ нм. измерения межплоскостного рас
стояния между параллельными плоскостями, формирующими дифракционное кольцо с номером к,
вычисляют при доверительной вероятностиР = 0.95 по формуле
/tft*> = 4.47
а
(12.5)
где) суммарная погрешностьизмерения межплоскостного расстояния в кристалле, вычисленная
по 12.4, нм.
12.6 Относительную погрешность измерения sff1. %. межплоскостного расстояния между парал
лельными плоскостями, формирующими дифракционное кольцо с номером к. вычисляютпо формуле
5<*>=М ^100.(12.6)
adi.k)
где AdW доверительная граница суммарной погрешности измерения межплоскостного расстояния
между параллельными плоскостями, формирующими дифракционное кольцо с номером к,
вычисленная по 12.5. нм;
г/* 1 межплоскостное расстояние между параллельнымиплоскостями, формирующимидифрак
ционное кольцос номером к. вычисленное по 11.2.3, нм.
12.7Среднеквадратическую погрешностьS^-, им, результата измерения среднеарифметическо
гозначения межплоскостного расстояния D в исследуемом кристаллепофотографическомуизображе
нию вычисляют поформуле
Х(О>-0)2
(12.7)
где D — среднеарифметическое значение межплоскостногорасстояния, вычисленное по 11.3.4, нм;
z — число вычислений значений расстояний между одиннадцатью плоскостями в кристаллической
решетке, вычисленное по 11.3.2;
О,, — межплоскостноерасстояние междуодиннадцатью плоскостями кристаллическойрешетки крис
талла, вычисленное по 11.3.3. нм.
12.8 Доверительную границу погрешности дD. нм. результата измерения среднеарифметическо
го значения межплоскостного расстояния в исследуемом кристалле вычисляют при доверительной
вероятности Р = 0.95 по формуле
ДО = 4,47Sj5\(12.8)
где S5- — среднеквадратическая погрешность результата измерения среднеарифметического значе
ния межплоскостного расстояния в исследуемом кристалле, вычисленная по 12.7, нм.
12.9 Относительную погрешность8д0,%. результатов измерения межплоскостного расстояния в
исследуемом кристалле по фотографическому изображению вычисляют поформуле
8дО= ^ 1 0 0 .(12-9)
о
где ДО доверительная граница погрешности результата измерения среднеарифметического значе
ния межплоскостногорасстояния, вычисленная по 12.8.нм;
О — среднеарифметическое значение межплоскостного расстояния в исследуемом кристалле по
фотографическому изображению, вычисленное по 11.3.4. нм.
12.10Проводят сравнение значений относительных погрешностей измерений) и 8д0. вычис
ленных по 12.6 и 12.9 соответственно, со значениями погрешностей измерений, приведенными в разде
ле 4.
8