10
4.5. При определении характеристик KIC, KC, KQT и K*C испытания образцов и типов 1-4 проводят до разрушения с регистрацией диаграмм «Р-ν».
Характерные типы диаграмм «Р-ν» (или «Р-f») приведены на черт. 7.
Диаграмма I типа характеризуется расположением вершины (точка С) левее прямой ОВ, наклоненной к оси v (или f) под углом α5, тангенс которого на 5 % меньше тангенса угла α наклона касательной ОА к начальному линейному участку диаграммы. Разрушение образца происходит в точке С диаграммы.
Диаграмма II типа характеризуется наличием локального максимума нагрузки (точка D), находящегося левее прямой ОВ. Разрушение образца происходит в точке С диаграммы, расположенной левее прямой OG, наклоненной к оси v (или f) под углом α30, тангенс которого на 30% меньше, чем тангенс угла наклона касательной ОА (угла α).
Диаграмма III типа характеризуется наличием максимума нагрузки (точка С), соответствующей разрушению образца, лежащей левее прямой OG.
