ГОСТ Р 50.04.07—2022
Пример
—
п
—
общее количество дефектов в ИО, подлежащих выявлению в соответствии с ТТ
на систему НК, составляет 20 штук. nd
—
количество дефектов, выявленных при контроле испыту
емой системой НК в процессе АИ, составило 19 штук. По формуле (Л.1) получаем значение точечной
оценки вероятности выявления дефектов, равное 0,95. Используя таблицу Л.1, получаем значение до
верительной вероятности выявления дефектов, равное 0,784 в 95 %-ном доверительном интервале.
В ТТ на систему НК в качестве значений вероятности выявления дефектов критических (браковочных) раз
меров рекомендуется устанавливать значение не ниже 0,9 в 95 %-ном доверительном интервале (0,9/95).
Минимальное количество ИО с дефектами, несплошностями, изменениями размеров и формы или дефек
тов в ИО будет зависеть от требуемых в ТТ на систему НК значений вероятности выявления дефектов.
При учете всех обнаруживаемых дефектов независимо от их размера (характеристического размера, ус
ловного размера) кривая их суммарной выявляемости будет иметь вид восходящей экспоненты (см. рисунок Л.2).
При этом граничный характеристический размер наименьшего выявляемого дефекта а0входит в показатель
экспоненты и зависит от чувствительности метода (методики) контроля.
0 а0а
Характеристический размер дефекта
Рисунок Л.2 — Кривая суммарной вероятности выявления дефектов, учитывающая все выявленные дефекты
независимо от их размеров
Л.1.7 Недостатком оценки контроля испытуемой системы НК по вероятности выявления дефектов является
отсутствие учета перебраковки, поскольку ремонт ложно забракованного объекта и зоны контроля может привести к
значительным материальным затратам и переоблучению персонала в процессе ремонта или замены забракован ного
объекта и зоны контроля.
Вариант, учитывающий перебраковку при оценке вероятности выявления дефектов, может быть выражен
формулой (Л.2). В формулу помимо общего количества дефектов, выявленных эталонным методом, и количества
выявленных дефектов испытуемой системой НК входит перебраковка.
Вероятность выявления дефектов заданного типа и размеров V вычисляют по формуле
V =
n+n,
пер
(Л.2)
где nd — количество событий, состоящих в выявлении (обнаружении) заданных дефектов при контроле испытуе
мой системой НК;
п — сумма негодных образцов (участков в ИО), определенных эталонным методом, занесенных в паспорт
ИО;
г?пер — количество ложно выявленных дефектов (перебраковка), негодные только по результатам контроля ис
пытуемой системой НК.
33