ГОСТ Р МЭК 60904-4—2016
Обычноизмеряется а условиях ЭО, близкой, но не совсем точно равной 1000 Вт/м2. Предполагая, что /0
эталонного элемента изменяется линейно с изменением ЭО. вводится следующая поправка:
Вт
/о (1000 Вт •м-2) = /к, Ма = ,М ■
Чгум
1000 —F
(А.1)
СУИ подразумевают, что температура прибора равна 25 ‘’С. однако измерения не всегда выполняются при
этой температуре. Температурные отклонения должны быть учтены в бюджете неопределенности. Можно также
ввести температурную коррекцию с тем. чтобы привести значение/„(Г,), измеренное при температуре Г3.кискомой
величине /<3(25 ‘ С) путем умножения /0 (Га)на коэффициент температурной коррекции Мт.
г » )
/в (2 5 °С )-/^Г в) М г »
1- W
и
25’c -ra}
(А.2>
Поправка, связанная с отличием спектральных чувствительностей калибруемого элемента и прибора, пред
назначенного для измерения ЭО. может быть описана как фактор несоответствия:
JS{X> есГ(Х) </>.
MMF =
Js(x)£(x)-rfx
|ест{х)<#х
(А.З)
]£(X )dX
П р и м е ч а н и е — Область интегрирования соответствует определению £СТ(Х). Если измерения, в час
тности для £(Х).не покрывают целиком этот спектральный диапазон, могут быть использованы аппроксимация, экс
траполяция или модельные оценки, но это должно быть учтено при расчете неопределенности.
Калибровочное значение CV эталонного элемента определяется следующим образом:
CV = la MQ ■M r -MMF.(А.4)
А.1.4 Справочная документация
C.R. Osterwald el al. «The results of the PEP’93 intercomparison of reference cell calibrations and newer technology
performance measurements: Final Report». NREL/TP-520-23477 (1998). 209 pages.
C.R. Osterwald et al. «The world photovoltaic scale: an international reference cell calibration program». Progress in
Photovollaics 7 (1999) 287—297.
K. Emery «The results of the First World Photovoltaic Scale Recalibration». NREL/TP-520-27942 (2000). 14 pages.
Winter el at.: «The results of the Second World Photovoltaic Scale Recalibration». Proc. Of the 31st IEEE PVSC
3—7 January 2005. Orlando. Florida. USA. pp. 1011— 1014.
A.2 Метод полного солнечного излучения
Вданном случае установление прослеживаемости основано на калибровках с использованием так называе
мого «непрерывного метода солнца-и-тени*. описанного в ИСО 9846. Калибруемый эталонный солнечный элемент
сличается в условиях естественного солнечного излучения с двумя эталонными радиометрами, а именно с
пирге лиометром. измеряющим прямую ЭО от солнца, и с пиранометром, измеряющим рассеянную
солнечную ЭО с помощью устройства, создающего непрерывную тень в направлении нормального падения.
Полная ЭО от солнца определяется суммированием прямой ЭО и рассеянной ЭО. В качестве пиргелиометра
используется абсолютный полостной радиометр в ранге вторичного эталона, который каждые 5 лет сличается с
Мировой Эталонной Грулпой (МЭГ), составляющей Мировой Радиометрический Эталон (МРЭ). Калибровочный
коэффициент эталонного ФЭ элемента определяется из измерения тока короткого замыкания, приведенного к
ЭО 1000 Вт/м2. с поправкой на спектральное несоответствие (МЭК 60904-7), посчитанное на основании
измерений СПЭО полного солнечного излучения и относительной спектральной чувствительности калибруемого
эталонного солнечного элемента.
В определенных условиях может быть применен упрощенный метод полного солнечного излучения. Ток
короткого замыкания эталонного элемента приводится к ЭО 1000 Вт/м2 и затем строится график зависимости тока
короткого замыкания от геометрической воздушной массы с учетом поправки на атмосферное давление. Далее
полученный график методом наименьших квадратов аппроксимируется линейной зависимостью, из которой опре
деляется калибровочное значение как соответствующее значению воздушной массы AM 1.5. Коррекция на спек
тральную несовместимость не требуется, т.о. измерения СПЭО и спектральной чувствительности проводить не
обязательно. В упрощенном варианте метода полного солнечного излучения коррекции на спектральное несоотве
тствие явно не производится, но условия применения метода должны гарантировать, что СПЭО естественного
солнечного света настолько близка к стандартной СПЭО (МЭК 60904-3), что соответствующая составляющая
неопределенность меньше величины, указанной в таблице А.1. Несмотря на то. что это обстоятельство обеспечено
ниже перечисленными условиями в описании метода, оно должно быть явно проверено (предпочтительно с
6