Приложение А
(справочное)
ГОСТ Р МЭК 60904-4—2016
Примеры валидированных процедур калибровки
А.1 Введение
В настоящем приложении описаны примеры процедур калибровки эталонных ФЭ солнечных элементов а
ранге рабочих эталонов 1-го разряда и соответствующие им установленные неопределенности. Эти процедуры
служат для установления прослеживаемости эталонных солнечных приборов к системе единиц СИ. как того
требу ет стандарт МЭК 60904-2 Рабочие эталоны 1-го разряда, прошедшие калибровку в соответствии с этими
процеду рами. служат для установления прослеживаемости нижестоящих эталонных ФЭ солнечных приборов.
Как было отмечено в разделе 1. описанные в настоящем приложении методы относятся только к однолере-
ходным технологиям. Более того,до сих пор эти методы прошли валидацию только для технологии кристаллическо го
кремния, хотя должны быть применимы и к другим технологиям.
Описанные здесь методы реализованы в ряде лабораторий различных стран мира и были подтверждены
результатами международных сличений, в том числе приведших к установлению Мировой Фотоэлектрической
Шкалы (МФЭШ). Описания, приведенные в настоящем стандарте, носят общий характер.Детали различных реали
заций можно найти в публикациях, ссылки на которые даны в конце описания каждой процедуры.
Все составляющие неопределенности приведены как расширенные неопределенности и95 (с коэффициен
том охвата
к
= 2). Суммарная расширенная неопределенность вычислена каккорень квадратный суммы квадратов
всех составляющих. Приведенные бюджеты неопределенностей предоставлены лабораториями, осуществивши
ми приведенные ниже процедуры, и являются упрощенными версиями, ограниченными только основными состав
ляющими. Эти вычисления неопределенностей служат в качестве руководства и должны быть адаптированы к
конкретной реализации каждой процедуры в данной лаборатории. Неопределенности, достигнутые при различных
реализациях этих методов, могут иметь существенные различия. При этом оцениваемые неопределенности дол
жны опираться на детальный анализ и не могут колироваться со ссылкой на настоящий стандарт.
А.1.1 Примеры валидированных методов
А.2 Метод полного солнечного излучения.
А.З Метод дифференциальной спектральной чувствительности (ДСЧ).
А.4 Метод солнечного имитатора.
А.5 Метод прямого солнечного излучения.
А.1.2 Список общих обозначений
s
1Ю— ток короткого замыкания эталонного элемента;
Га — температура эталонного элемента;
Мв — коэффициент коррекции энергетической освещенности (см. ниже);
Мт — коэффициент температурной коррекции (см . ниже);
г»х>эф— температурный коэффициент а тока короткого замыкания (МЭК 60891). нормализованный на ток
короткого замыкания при 20 ‘ С и выраженный а 1°С;
MMF — фактор несоответствия (см. ниже);
>.— длина волны;
S( >.) — спектральная чувствительность эталонного элемента;
s( /.) — дифференциальная спектральная чувствительность эталонного элемента;
£(А.) — спектральная плотность энергетической освещенности (СПЭО) естественного или искусственного
солнечного излучения;
£ст(
а
) — стандартное распределение СПЭО согласно МЭК 60904-3;
Gnp — энергетическая освещенность (ЭО) прямого излучения;
Gp — ЭО рассеянного излучения;
^сум — суммарная ЭО;
£суи — ЭО при стандартных условиях испытаний (= 1000 Вт/м2);
CV — калибровочное значение, т. е. /м в стандартных условиях испытаний (СУИ);
AM — воздушная масса;
СУИ — стандартные условия испытаний (1000 Вт/м2. 25 ‘ С и £ (
a
));
Р — локальное атмосферное давление;
Р0 — 101 300 Па.
о — высота солнца над горизонтом в градусах.
А.1.3 Общие формулы
Методы, описанные в разделах А.2. А.4 и А.5. содержат некоторые общие вычисления, подробно рассмотрен
ные в данном подразделе. Детали различных реализаций описаны в соответствующих подразделах.
5