ГОСТ Р МЭК 60904-4—2016
А.4.1 Оборудование
Для реализации метода необходимо следующее оборудование (см рисунок А.3):
a) Солнечный имитатор класса ААА согласно МЭК 60904-9.
b
) Спектрорадиометр согласно требованиям CIE 53-1982.
c) Средства измерения спектральной чувствительности эталонного солнечного элемента в соответствии с
МЭК 60904-8.
d) Эталонная лампа, единица СПЭО которой передана непосредственно от национальной шкалы СПЭО.
прошедшей процедуру взаимного признания CCPR/CIE.
e) Попостной радиометр, прослеживаемый к МРЭ. с углом зрения шире, чем угол распространения излуче
ния солнечного имитатора (не обязательно).
f) Средства измерения тока короткого замыкания эталонного солнечного элемента, которые должны соот
ветствовать общим требованиям измерений МЭК 60904-1.
д) Средства поддержания температуры солнечного элемента на уровне (25
±
2) °С.
А.4.2 Процедура калибровки
a) Относительная спектральная чувствительность эталонного элемента должна быть измерена с использо
ванием «белого» смещающего излучения с ЭО ЮОО Вт.’м2 при температуре элемента (25 г 2) “С. в соответствии с
МЭК 60904-8.
b
) Уровень ЭО солнечного имитатора в рабочей плоскости должен быть установлен равным примерно
1000 Вт/м2 с помощью теплового фотоприемника, например на основе термопары.
c) Абсолютные значения СПЭО в рабочей плоскости должны быть измерены с помощью прошедшего калиб
ровку спектрорадиометра в соответствии с CIE 63-1984.
П р и м е ч а н и е — Для расчетов, описанных в А.4.3. перечисление а), спектральный диапазон должен по
крайней мере соападатьс диапазоном S(l). В случае использования полости [А.4.3, перечисление Ь)] спектральный
диапазон измерений СПЭО должен быть достаточно широким, чтобы достичь требуемой неопределенности.
d) Калибруемый эталонный солнечный элемент должен быть размещен в рабочей плоскости имитатора.
Температура элемента должна поддерживаться на уровне (25
±
2) “С. Ток короткого замыкания элемента должен
быть измерен более 10 раз. после чего должно быть вычисленосреднее значение.
А.4.3 Обработка результатов измерений
a) Калибровочное значение вычисляют следующим образом:
/^ ( Х ^ Х У
Л
(А.14)
*jE(X>S(X)rfX ’
где £ (X) — абсолютные значения СПЭО солнечного имитатора.
b
) 8 случае необходимости прямой прослеживаемости к МРЭ абсолютное значение ЭО солнечного имитато
ра измеряется полостным радиометром, имеющим привязку к МРЭ в соответствии с А.4.1. перечисление е). В этом
случае калибровочное значение вычисляют по формуле А.4. где (Зсу%| — суммарная ЭО солнечного
имитатора, измеренная полостным радиометром, привязанным к МРЭ.
c) Действия по А.4.2 и А.4.3 следует выполнить дважды и среднее значение CV считать окончательным
калибровочным значением.
А.4.4 Оценка неопределенности
В таблицах А.З и А.4 приведены типичные значения составляющих суммарной расширенной неопределен
ности Ua5. равной соответственно 2 % и 0.6 % (коэффициент охвата
к
- 2).
Т а б л и ц а А.З — Пример составляющих неопределенности (* * 2) для метода солнечного имитатора
Неопределенность эталонной лампы< 2%
Неопределенность, связанная со спектрорадиометром<0.2%
Неопределенность, связанная с нестабильностью температуры<0.2%
Неопределенность передачи, связанная со спектральной чувствительностью
и спектральным несоответствием между имитатором и стандартным солнеч<0.2%
ным спектром
Неопределенность, связанная с временной нестабильностью и простра
нственной неоднородностью имитатора, а также с отличием в размерах и по< 0.2 %
стоянной времени спектрорадиометра и солнечного элемента
Суммарная расширенная неопределенность< 2%
14