ГОСТ Р МЭК 60904-4—2016
Н. Mullejans. W.Zaaiman.F. Merit, Е. D. Dunlop, H. A. Ossenbnnk «Comparison of traceable calibration methods for
primary photovoltaic reference cells» Progress in Photovoltatcs 13 (2005)661—671
F.C. Treble and K.H. Krebs «Companson of European Reference Solar Cell Calibrations» Proc. 15th IEEE PV Spec.
Conf.. 1981, pp. 205—210
R. Whitaker. G. Zerlaut. and A. Purnell «Experimental demonstration of the efficacy ofglobal versus direct beam use In
photovoltaic performance prediction of flat plate photovoltaic modules» Proc 16th IEEE PVSC. pp. 469—474,1982
A.3 Метод дифференциальной спектральной чувствительности (ДСЧ)
Вданном случае прослеживаемость основана на измерениях спектральной чувствительности с помощью эта
лонных приемников, имеющих, в свою очередь.прямую прослеживаемостьксистеме единиц СИ. Калибровочное зна
чение вычисляется из измеренной абсолютной спектральной чувствительности эталонного солнечного элемента и
стандартного распределения СПЭО солнечного излучения. Передача спектральной чувствительности осуществля
ется от уровня ЭО. присущей эталонному приемнику, к уровню ЭО солнечного излучения с увеличением в несколько
порядков без каких-либо ограничений на линейность солнечного элемента или спектральное соответствие.
А.3.1 Оборудование
Для реализации метода требуется следующая аппаратура (см. рисунки А.1 и А.2):
a) источник монохроматического излучения на базе снабженного модулятором монохроматора, создающий
освещение с уровнем СПЭО не менее 1 мВт м*2нм-1 в диапазоне длин волн, перекрывающим диапазон спектраль
ной чувствительности калибруемого эталонного солнечного элемента и характеризуемый прослеживаемостью по
длине волны;
b
) лампа (лампы) с линзовой или зеркальной входной оптикой (рекомендуются кварцевая галогенная лампа
для спектрального диапазона от 400 нм и далее и ксеноновая дуговая лампа для длин волн менее 400 нм);
c) источник смещающего освещения, стабильность, однородность и СПЭО которого должны соответство
вать требованиям к источникам класса СВА согласно МЭК 60904-9.
d) модулированный монохроматический источник (фильтровый), с прослеживаемостью по длине волны,
предназначенный для абсолютной калибровки на одной или нескольких конкретных длинах волн. Неравномер
ность освещения, создаваемого источником, должна быть менее
±
3 % в пределах активной зоны калибруемого
прибора;
e) контрольный фотодиод (приемник-монитор) с площадью приемной площадки достаточно большой, чтобы
контролировать мощность излучения монохроматических источников по перечислениям а) и d);
0 термостатированный эталонный приемник (приемники) излучения с прямой прослеживаемостью к СИ. В
качестве таких приемников следует использовать фотодиоды с наилучшими характеристиками по линейности, про
странственной однородности и стабильности;
д) юстируемая диафрагма (проецируемая на эталонный элемент);
h) средства поддержания температуры солнечного элемента на уровне (25
±
2) *С;
0 средства для измерения переменной составляющей токов короткого замыкания калибруемого солнечного
элемента, эталонного приемника и приемника-монитора, т. в. средства на основе синхронного усилителя. Расхож
дения коэффициентов усиления таких усилителей (на одних и тех же пределах усиления) не должны отличаться
более чем на 0,1 %. Желательно использовать один и тот же усилитель для эталонного элемента и эталонного при
емника;
j) средства измерения постоянной составляющей 1си тока короткого замыкания солнечного элемента, в соот
ветствии с А.3.2. перечисление f).
А.3.2 Рабочая процедура
a) Стабилизируют температуру солнечного элемента на уровне (25
±
2) °С.
b
) Юстируют диафрагму так. чтобы ее изображение совпадало с активной областью солнечного элемента с
точностью
±
1 мм.
c) Устанавливают эталонный приемник в фокусе монохроматического пучка, так. чтобы приемник собирал
всю мощность излучения.
d) Калибруют монохроматический источник [см. А.3.1. перечисление а)] в единицах относительного распре
деления СПЭО (без учета источника смещающего излучения).
е) Включают модулятор монохроматического источника (см. А.3.1, перечисление а)] и измеряют отношения
переменных составляющих токов короткого замыкания приемника-монитора д/пы П0£> и эталонного приемника д/^,
измеряя их одновременно во всем спектральном диапазоне чувствительности с промежутками не более 10 нм.
f)Включают источник «белого» смежающего освещения [А.3.1. перечисление с)], устанавливают желаемый
уровень освещенности Есм (в диапазоне от 10до 1100 Вт/м2) и измеряют соответствующую постоянную составляю
щую тока короткого замыкания /см = /<а(Есм>.
д) Определяют относительную спектральную чувствительность солнечного элемента, используя модулиро
ванный монохроматический источник освещенности [А.3.1. перечисление а)] и измеряя отношения токов короткого
замыкания солнечного элемента &1С
Я
и приемника-монитора
А/пи.
Вычисляют относительную дифференциальную
спектральную чувствительность s( >../см)огм солнечного элемента при освещенности Есм
10