ГОСТ Р 8.628—2007
Введение
Для проведения линейных измерений в диапазоне от 10’9до 10
_
6 м используют растровые элек
тронные или сканирующиезондовые атомно-силовые измерительные микроскопы (далее — микроско
пы).Для их поверки и калибровки применяют материальные носители единицы длины (далее — меры),
размеры элементов которых определяют, используя стабилизированное по частоте лазерное излуче
ние. Длину волны лазерного излучения поверяют с помощью эталона длины.
На практике в качестве мер применяют рельефные меры нанометрового диапазона
(далее — рельефные меры), представляющие собой пластину из монокристаллического кремния,
на поверхности которой сформированы элементы рельефа определенной геометрической формы с
размерами основных элементов не более 10 е м.
В основе технологического процесса создания рельефных мер лежит использование анизот
ропного травления монокристаллического кремния, скорость травления в направлении одной из
кристаллографических плоскостей в кристаллической структуре кремния в несколько тысяч раз
превышает скорость травления в направлении другой кристаллографической плоскости.Угол меж
ду кристаллографическими плоскостями определен кристаллической структурой кремния.
В результате формируются пространственные геометрические фигуры с известным углом наклона
между боковыми стенками иоснованиями. Ориентацию рабочей поверхности пластины, на которой
формируются элементы рельефа, определяют рентгеновским дифракционным методом по мето
дике, установленной в ГОСТ 19658—81 «Кремний монокристаллический в слитках. Технические
условия».
Настоящий стандарт устанавливает требования к геометрическим формам и линейным раз
мерам. атакже к выбору материала для изготовления рельефных мер нанометровогодиапазона из
монокристаллического кремния. Рельефные меры могут быть изготовлены с трапецеидальным
профилем элементов рельефа. Методика их поверки установлена в ГОСТ Р 8.629—2007, а приме
нение для целей поверки микроскопов установлено:
- для растровых электронных микроскопов — в ГОСТ Р 8.631—2007;
- для сканирующих зондовых атомно-силовых микроскопов — в ГОСТ Р 8.630—2007.
(Измененная редакция, Изм. № 1).
IV