ГОСТ Р 56649—2015
Ш
[
2
]
[
3
]
И]
15]
[
6
]
17]
[
8
]
[9]
(
10
]
[
11
]
[
12
]
[13]
[14]
[15]
[16]
[17]
[18]
[19]
[
20
]
[
21
]
Стандарт Европейского
космического агентства
ECSS-Q-ST-60C
Стандарт Европейского
Космического Агентства
ECSS-Q-ST-60-05С
Стандарт Европейского
Космического Агентства
ECSS-Q-ST-60-14C
Военный стандарт США
MIL-PRF-38535
Военный стандарт США
MIL-PRF-38534
Военный стандарт США
MIL-PRF-19500
Стандарт организации
JEDEC
JESD370B
Руководство NASA
EEE-INST-002
Справочное руководство
MIL-HD8K-217F
Военный стандарт США
MIL-STD-883
Военный стандарт США
MIL-STD-750
Военный стандарт США
MIL-STD-202
Стандарт организации
ASTM (США)
ASTMF1192
Спецификация Европей
ского космического
агентства
ESCC BS No. 25100
Спецификация Европей
ского космического
агентства
ESCC BS No. 22900
Стандарт организации
JEDEC
JESD57
Стандарт Европейского
космического агентства
ECSS-E-10-12
Стандарт организации
IEEE
IEEE Std 1156.4-1997
Публикация NASA
JPL Publication 00-06
Военный стандарт США
MIL-STD-690D
Спецификация Европей
ского космического
агентства
ECSS BS No 26000
Библиография
Обеспечение качества продукции космического назначения. Электротехниче
ские. электронные и электромеханические компоненты (Space product assur
ance. Electrical, electronic and electromechanical (EEE) components)
Обеспечение качества продукции космического назначения. Общие требования
к гибридным интегральным микросхемам (Space product assurance. Generic pro
curement requirements for hybrids)
Обеспечение качества продукции космического назначения. Повторное под
тверждение качества и надежности ЭКБ после хранения (Space product
assurance. Relifing rocedure- EEE components)
Технические требования к производству интегральных микросхем. Общая спе
цификация (Performance specification. Integrated Circuits (Microcircuits) Manufac
turing. General Specification For)
Технические требования к гибридным микросхемам. Общая спецификация (Per
formance Specification. Hybrid Microcircuits. General Specification For)
Технические требования к полупроводниковым приборам. Общая специфика
ция (Performance Specification Semiconductor Devices. General Specification For)
Система обозначений полупроводниковых приборов (Designation Sys-tem for
Semiconductor Devices)
Выбор, отбраковка, квалификация и снижение рабочих нагрузок изделий ЭКБ
(Instructions for EEE Parts Selection. Screening, Qualification, and Derating)
Прогнозирование надежности электронного оборудования. Справочное руко
водство (Military Handbook. Reliability Prediction of Electronic Equipment)
Микросхемы. Методы испытаний (Test Method Standard
Microcircuits)
Методы испытания полупроводниковых устройств {Test Method Standard. Test
Methods For Semiconductor Devices)
Методы испытаний электронных и электротехнических компонентов (Test Meth
od Standard. Electronic And Electrical Component Parts)
Руководство no измерению одиночных эффектов в полупроводниковых прибо
рах при их облучении тяжелыми заряженными частицами (Standard Guide for
the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradia
tion of Semiconductor Devices)
Одиночные эффекты. Методы испытаний (Single event effects test method and
guidelines)
Полная накопленная доза. Методы испытаний (Total dose steady-state
Irradiation)
Методы испытаний и измерений одиночных эффектов в полупроводниковых
устройствах при облучении тяжелыми заряженными частицами (Test Procedures
for the Measurement of Single-Event Effects in Semiconductor Devices from Heavy
Ion Ir radiation)
Космическая техника. Методы расчета радиационных воздействий и их эффек
тов и определение коэффициентов запаса по радиационной стойкости при про
ектировании (Space Engineering. Methods for the calculation of radiation received
and itseffects, and a policy for design margins)
Бортовые средства вычислительной техники, требования по стойкости к воз
действиям факторов окружающей среды
(IEEE Standard for Environmental Specifications for Spacebome Computer Modules)
Воздействие радиации космического пространства на изделия микроэлектрони
ки. Вводный курс
(Ал Introduction to Space Radiation Effects on Microelectronics)
Отбор образцов и порядок проведения испытаний на надежность. Установлен
ная практика
(Department of defense. Standard practice. Failure rate sampling plans and proce
dures)
Отбор образцов и порядок проведения испытаний на надежность
(Failure rate level sampling plans and procedures)
53