ГОСТ Р 56649—2015
14.6 Решение о порядке комплектования и перечень для закупки изделий ЭКБ утверждает
главный конструктор изделия РКТ (СЧ изделия РКТ).
14.7 Форма решения о порядке комплектования приведена в приложении Ж.
15 Подтверждение качества и соответствия изделий ЭКБ ИП, проведение
ВК, ДИ, РИ
15.1 Мероприятия и работы по подтверждению качества и соответствия изделий ЭКБ ИП. воз
можности их применения в изделии РКТ (СЧ изделия РКТ). виды, порядок и сроки проведения испы
таний изделий ЭКБ ИП устанавливают в ПОН и ПОСТ с указанием отчетных документов.
15.2 Изделия ЭКБ ИП. предназначенные для применения в РЭА РКТ. должны пройти сплошной
входной контроль. Входной контроль проводят в соответствии с программой ВК.
15.3 При проведении входного контроля изделий ЭКБ ИП проверяют целостность корпуса, вы
водов. маркировки, покрытия выводов и корпуса, другие технические характеристики изделий, влия
ющие на возможность их допуска в производство на соответствие требованиям, установленным до
кументами. в соответствии с которыми применяют изделия, национальными стандартами страны -
производителя изделия, стандартами организации JEDEC и другими международными стандартами,
регламентирующими требования к изделиям ЭКБ ИП.
15.4 ДИ проводят с целью выявления скрытых дефектов в изделиях ЭКБ ИП. Объем ДИ уста
навливают в программе ДИ.
15.5 Программы ВК. ДИ должны быть утверждены (согласованы) руководителем ИТЦ, гене
ральным (главным) конструктором изделия РКТ и главным конструктором СЧ изделия РКТ. Програм мы
ВК. ДИ допускается объединять в один документ.
15.6 Модель ВВФ рекомендуется разрабатывать в форме таблицы 7.
Т а б л и ц а 7- Форма модели внешних факторов, воздействующих на изделия ЭКБ ИП
Наименование внеш
них воздействующих
факторов
Наименование характеристик внешних воздей
ствующих факторов, единица изменения
Значение воздействующих фак
торов
1
2
3
Модель ВВФ подписывает генеральный (главный) конструктор изделия РКТ или главный кон
структор СЧ изделия РКТ. Модель ВВФ должна быть согласована с ГНИО по ЭКБ. Объем ДИ и объем
выборки изделий ЭКБ ИП для проведения ДИ определяют в результате анализа данных по стойкости к
ВВФ. указанных в документах, в соответствии с которыми применяют изделия и в сопроводительной
документации, поставляемой вместе с изделиями ЭКБ ИП и сопоставления их с моделью ВВФ.
15.7 Объем испытаний изделий ЭКБ ИП на стойкость к воздействию ионизирующего излучения
космического пространства устанавливается в соответствии с критериями, принятыми в ракетно-
космической промышленности и/или заказчиком ОКР с учетом следующих факторов:
- отсутствие в документах, в соответствии с которыми производят изделие ЭКБ ИП. данных по
радиационной стойкости этого изделия;
- уровень радиационной стойкости, указанный в документе, по которому производят изделие
ЭКБ ИП, протоколах радиационных испытаний, проведенных производителем изделия ЭКБ ИП. по
требителем изделия ЭКБ ИП. не обеспечивает трехкратный запас по радиационной стойкости этого
изделия ЭКБ ИП с учетом расчета радиационной стойкости изделия РКТ (СЧ изделия РКТ) и уровня
радиационного воздействия, указанного в ТЗ (ТУ) на изделие РКТ (СЧ изделия РКТ);
- характеристик чувствительности изделия ЭКБ ИП к радиационным воздействиям (эффектам),
обусловленной типом полупроводника, технологией изготовления и его конструкцией.
15.8 По согласованию с головным исполнителем ОКР на разработку изделия РКТ допускается
подтверждать требования по радиационной стойкости ЭКБ ИП к поглощенной дозе результатами ис
пытаний изделий ЭКБ ИП в составе СЧ изделия РКТ.
15.9 Радиационные испытания изделий ЭКБ ИП проводят на стойкость только к тем радиацион
ным воздействиям (эффектам), к которым чувствителен данный тип изделий в зависимости от его
функционального назначения, технологии изготовления, типа полупроводника и конструкции.
15.10 Состав радиационных испытаний должен быть рациональным. Рациональность состава
радиационных испытаний определяют в соответствии с действующими нормативно-техничесхими до
кументами.
15.11 Программа и методика радиационных испытаний изделий ЭКБ ИП должны быть утвер-
25