ГОСТ Р 53734.3.3—2016
контроль и функциональные испытания должны проводиться при комнатной температуре или в соот
ветствии с требованиями, установленными в спецификации на компонент. Если испытания должны
проводиться при разных температурах, выполните сначала испытания с более низкой температурой, а
затем последовательно повышайте температуру.
Если все компоненты удовлетворяют требованиям параметров, установленных в технической
спецификации, повторите действия no 7.2.3-7.2.5. используя более высокий уровень воздействия, ука
занный в таблице 2.
7.2.6 Если один или более образцов компонентов вышли из строя, повторите испытание электро
статическим разрядом, используя при этом три новых компонента, начиная со следующего меньшего
уровня воздействия. Если компоненты продолжают выходить из строя, снижайте напряжение воздей
ствия до тех пор, пока не достигнете уровня один. При выявлении отказов на уровне один (таблица 2)
остановите проведение испытаний на этом уровне.
7.2.7 В качестве альтернативы возможно использование трех отдельных образцов компонентов
на каждом уровне воздействия из таблицы 2. Отдельные компоненты могут также использоваться для
каждой полярности и штыря. Документально оформите и запишите размер выборки и план проведения
испытаний.
7.3 Критерии классификации
Классификация компонентов проводится по наивысшему уровню напряжения при воздействии
ЭСР (положительной и отрицательной полярности), на котором все три образца подтверждают соот
ветствие статических и динамических параметров технической спецификации.
Тее, А
Рисунок 4 — Форма вопны ЭСР модуля заряженного устройства для испытательных
устройств с 3 ГГЦ приборами измерения
П р и м е ч ан и е — Для положительной полярности: 1р2— второй пик. отрицательноеотклонение: 1рЗ— тре
тий пик. положительное отклонение. Для отрицательной полярности: 1р2 — второй пик. положительное отклонение;
1рЗ — третий пик. отрицательное отклонение.
Т аб л ица 3 — Требования, предъявляемые к форме волны при использовании ширины полосы 3.0 ГГц
Зарядное напряжение. В.
t
5
%
Обозначение
Проверочный модуль 4.0 пФ,
А.
±
20
%
Проверочный нодуль 30 пФ.
А.
±
20
*
125
1р1
1.90
—
250
1Р 1
3.75
—
500
1р1
7.50
18.0
1000
1Р 1
15.0
—
1500
1р1
22.5
—
2000
1Р 1
30.0
—
11