ГОСТ Р 56980-2016
9) Увеличивают подаваемый на испытуемый образец ток до значения, превышающего в 1,25 раза
ток короткого замыкания испытуемого образца, измеренный при СУИ. Поддерживают значение тока на
указанном уровне и температуру испытуемого образца на уровне (75 ± 5) 4С в течение 1 ч.
10) Проверяют работоспособность каждого шунтирующего диода, принимающего участие в ис
пытаниях.
Одним из возможных способов является повторная подача прямого тока через шунтирующий
диод и обратного тока через фотоэлектрические элементы и контроль температуры диода с помощью
ИК-камеры. Перед выполнением проверки по этому способу необходимо дождаться, когда температура
шунтирующего диода установится на уровне температуры окружающей среды.
Другим способом проверки работоспособности шунтирующего диода является поочередное за
тенение защищаемых каждым диодом фотоэлектрических элементов в испытуемом образце (одного
фотоэлектрического элемента в каждой цепочке из последовательно соединенных элементов) и изме
рение параметров ВАХ при энергетической освещенности, близкой к СУИ. В этом случае необходимо
подключить приборы для измерения напряжения.
Примечание — Проверка работоспособности шунтирующего диода может быть выполнена с помощью
испытания на стойкость к местному перегреву по 10.9.
11) Если в испытуемом образце установлено несколько шунтирующих диодов и нет возможности
испытать все шунтирующие диоды одновременно (см. этап 5), при выключенном источнике питания
устанавливают датчики температуры на следующий(е) диод(ы), если они не были установлены ранее,
меняют положение перемычек или переключателя и повторяют этапы 7) — 10) поочередно с каждой
группой шунтирующих диодов, которые можно испытать одновременно, или с каждым диодом.
12) Если в испытуемом образце установлены блокирующие диоды, выполняют этапы 13) и 14).
13) Размыкают блокирующие диоды, устанавливают на блокирующие диоды датчики темпера
туры. аналогично тому, как указано в примечании 2 этапа 2), если это не было сделано ранее, и уста
навливают перемычки или переключатели таким образом, чтобы ток. равный току, подаваемому на
испытуемый образец, протекал только через один блокирующий диод или через каждый из нескольких
незамкнутых блокирующих диодов (см. этап 5).
14) Выполняют этапы 7) — 11) для блокирующего диода (группы блокирующих диодов, которые
можно испытать одновременно).
Примечание — Примечание этапа 10) относится только к шунтирующим диодам.
10.18.5 Завершающие испытания
Для оценки изменения характеристик испытанного образца проводят следующие испытания:
- визуальный контроль по 10.1;
- определение максимальной мощности по 10.2;
- измерение сопротивления изоляции по 10.3.
Сравнивают полученные результаты с требованиями раздела 7 и результатами исходных измере
ний по 10.3 и результатами измерений по 10.2 до проведения испытания.
Испытанные образцы считают выдержавшими испытания, если;
- рассчитанные температуры перехода шунтирующих/блокирующих диодов не превышают задан
ную изготовителем максимальную допустимую температуру перехода;
- отсутствуют видимые функциональные повреждения, указанные в разделе 7;
- уменьшение максимальной выходной мощности не превышает 5 % от значения, измеренного до
проведения испытания;
- сопротивление изоляции отвечает требованиям 10.3;
- после проведения испытаний шунтирующие/блокирующио диоды сохраняют работоспособность.
11 Протокол испытаний
Протокол испытаний (сертификат соответствия) оформляется испытательной лабораторией, про
водившей испытания, в соответствии с ГОСТ ИСО/МЭК 17025. Протокол испытаний (сертификат соот
ветствия) должен содержать как минимум следующие данные;
a) название документа;
b
) наименование и адрес испытательной лаборатории и указание места, где были проведены ис
пытания;
41