ГОСТ Р 56980-2016
е) прибор для измерения энергетической освещенности.
10.8.3 Проведение испытаний
1) Устанавливают испытуемый образец и приборы для измерения энергетической экспозиции в
соответствии с требованиями изготовителя таким образом, чтобы рабочие поверхности измерительных
приборов и испытуемого образца были компланарны.
2) Устанавливают все рекомендуемые изготовителем средства защиты от местного перегрева.
3) Подключают нагрузку к испытуемому образцу в соответствии с требованиями изготовителя.
4) Подвергают испытуемый образец выдержке при естественном солнечном освещении с суммар
ной энергетической экспозицией 60 кВт ч/м2 при общих климатических условиях в соответствии с [1].
10.8.4 Завершающие испытания
Для оценки изменения характеристик испытанного образца проводят следующие испытания:
- визуальный контроль по 10.1;
- определение максимальной мощности по 10.2;
- измерение сопротивления изоляции по 10.3.
Сравнивают полученные результаты с требованиями раздела 7. результатами исходных измере
ний по 10.2 и требованиями 10.3.
Испытанные образцы считают выдержавшими испытания, если;
- отсутствуют видимые функциональные повреждения, указанные в разделе 7;
- снижение максимальной выходной мощности не превышает 5 % от значения, полученного при
исходных измерениях:
- сопротивление изоляции отвечает требованиям 10.3.
10.9 Испытания на стойкость к местному перегреву
10.9.1 Цель
Определение способности фотоэлектрического модуля выдерживать локальный перегрев, веду
щий, например, к плавлению пайки или ухудшению качества герметизации. Такой перегрев может быть
вызван, например, повреждением или рассогласованием фотоэлектрических элементов, дефектами
соединений, частичным затенением или загрязнением.
10.9.2 Общие положения
Метод испытаний заключается в определении фотоэлектрического элемента с максимальным на
гревом при нормальном режиме работы испытуемого образца, создании состояния выделения в этом
элементе максимальной тепловой энергии и выдержке его в этом состоянии.
Порядок проведения испытаний на стойкость к местному перегреву определяется наличием, ко
личеством и размещением шунтирующих диодов в испытуемом образце и типом соединения фотоэлек
трических элементов, защищаемых одним шунтирующим диодом.
В наиболее распространенном случае, когда в испытуемом образце установлен один шунтиру
ющий диод на выходе, а также если установка шунтирующих диодов не предусмотрена или каждый
элемент защищен отдельным шунтирующим диодом, проводят испытание испытуемого образца цели
ком. выбирая тот вариант испытаний, который соответствует типу соединений всех фотоэлектрических
элементов в испытуемом образце (см. 10.9.3 и 10.9.4).
Если в испытуемом образце установлено несколько шунтирующих диодов, то испытания проводят
отдельно для каждой части фотоэлектрических элементов, защищенной одним шунтирующим диодом.
Если в соответствии с рекомендациями изготовителя один шунтирующий диод должен устанав
ливаться параллельно нескольким последовательно соединенным фотоэлектрическим модулям, ис
пытания проводят с тем количеством модулей, которое указано изготовителем, и при выборе варианта
испытаний рассматривают общее соединение всех фотоэлектрических элементов во всех модулях.
Для того чтобы условия испытаний отражали наиболее жесткие условия функционирования фото
электрического модуля по местному перегреву, в настоящем стандарте установлены три варианта ис
пытаний в зависимости от типа соединения фотоэлектрических элементов.
10.9.3 Типы соединений фотоэлектрических элементов, защищенных одним шунтирующим
диодом
В настоящем стандарте рассмотрено три наиболее характерных типа соединений фотоэлектри
ческих элементов;
- последовательное соединение лэ фотоэлектрических элементов, фотоэлектрическая цепочка
элементов, цепочка [рисунок 8 а)];
23