ГОСТ Р 56980-2016
- поочередно затеняют фотоэлектрические элементы, контролируя значение тока короткого за
мыкания испытуемого образца /ку и определяют фотоэлектрический элемент, при затенении которого
происходит наибольшее снижение тока короткого замыкания испытуемого образца /ку
8) Продолжая освещать испытуемый образец с той же энергетической освещенностью, что и при
выполнении этапа 3) (отклонение энергетической освещенности от выбранного значения должно со
ставлять не более ± 3 %), полностью затеняют выбранный фотоэлектрический элемент и убеждаются,
что ток короткого замыкания испытуемого образца при полном затенении выбранного фотоэлектри
ческого элемента /к3 меньше значения /тад Если это условие выполняется, то максимальный нагрев
затененного фотоэлектрического элемента (максимальное рассеивание мощности на элементе) будет
происходить при /дл*>1тах.
9) Постепенно уменьшают площадь затенения фотоэлектрического элемента до тех пор. пока
значение 1КЗне станет наиболее близким к значению /тах.
10) Сохраняя такое же затенение фотоэлектрического элемента, что и на предыдущем этапе,
освещают испытуемый образец с энергетической освещенностью 1000 Вт/м2 ± 10% и измеряют ток
короткого замыкания /„.s1000.
11) Выполняют выдержку испытуемого образца в течение 5 ч в условиях, установленных на эта
пе 8). Контролируют температуру испытуемого образца и при необходимости регулируют затенение
фотоэлектрического элемента таким образом, чтобы поддерживать /хэ1000 на первоначальном уровне.
Температура испытуемого образца должна находиться в пределах (50 ± 10) ®С.
Наиболее критичный с точки зрения перегрева фотоэлектрический элемент находится в состоя
нии максимального нагрева.
Последовательно-параллельное соединение фотоэлектрических элементов
1) Устанавливают испытуемый образец и эталонный прибор на двухосевом следящем устройстве
как можно ближе друг к другу таким образом, чтобы рабочие поверхности эталонного прибора и ис
пытуемого образца были компланарны и перпендикулярны прямым солнечным лучам в пределах угла
падения ± 5°.
Или настраивают имитатор солнечного излучения (см. ГОСТ Р МЭК 60904-1) и устанавливают ис
пытуемый образец в плоскости измерения имитатора.
2) Устанавливают все средства защиты испытуемого образца от местного перегрева, рекомендо
ванные изготовителем.
3) Устанавливают и подключают необходимое измерительное оборудование.
4) Измеряют ВАХ испытуемого образца при энергетической освещенности не менее 700 Вт/м2 с
отклонением энергетической освещенности от выбранного значения не более ± 5 %. Неоднородность
распределения энергетической освещенности в плоскости измерения должна составлять не более ± 2 %.
5) Определяют ток испытуемого образца в точке максимальной мощности /тад и ток короткого за
мыкания /„ j.
Определяют ток /* 3испытуемого образца, соответствующий состоянию максимального местного
нагрева (рассеивания максимальной мощности) по следующему выражения, считая, что все цепочки
фотоэлектрических элементов создают одинаковые токи:
g
3т
\ ! ^
т
.(5)
где /кл — ток короткого замыкания испытуемого образца без затенения;
/щах — ток в точке максимальной мощности незатененного испытуемого образца;
т— количество параллельных цепочек фотоэлектрических элементов в испытуемом образце.
6) Устанавливают перемычку между выводами испытуемого образца.
7) При освещении испытуемого образца с той же интенсивностью, что и на этапе 3), выбирают в
испытуемом образце фотоэлектрический элемент, наиболее критичный с точки зрения перегрева, од
ним из способов:
- с помощью ИК-камеры или иных подходящих средств измерения температуры определяют наи
более горячий фотоэлектрический элемент;
- поочередно затеняют фотоэлектрические элементы, контролируя значение тока короткого за
мыкания испытуемого образца /ку и определяют фотоэлектрический элемент, при затенении которого
происходит наибольшее снижение тока короткого замыкания испытуемого образца 1КУ
26